電子天平的分類(lèi)與校準(zhǔn)

電子天平是天平中發(fā)展的一類(lèi)天平，是化學(xué)實(shí)驗(yàn)室常用稱(chēng)量?jī)x器之一。它具有稱(chēng)量快捷，使用方法簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。目前使用的主要有頂部承載式和底部承載式兩種。頂部承載式電子天平是zui早研制的電子天平，它是根據(jù)磁力補(bǔ)償原理制造的。電子分析天平是電子天平的一類(lèi)，但讀數(shù)更為，一般可達(dá)到±0.1mg。通常電子分析天平外面都有框罩包圍以保證度。

分類(lèi)

電子天平及其分類(lèi)按電子天平的精度可分為以下幾類(lèi)：

　　1、超微量電子天平：超微量天平的zui大稱(chēng)量是2至5g,其標(biāo)尺分度值小于（zui大）稱(chēng)量的10-6,如Mettler的UMT2型電子天平等屬于超微量電子天平。

　　2、微量天平：微量天平的稱(chēng)量一般在3至50g，其分度值小于（zui大）稱(chēng)量的10-5，如Mettler的AT21型電子天平以及Sartoruis的S4型電子天平。

　　3、半微量天平：半微量天平的稱(chēng)量一般在20至100g，其分度值小于（zui大）稱(chēng)量的10-5，如Mettler的AE50型電子天平和Sartoruis的M25D型電子天平等均屬于此類(lèi)。

　　4、常量電子天平：此種天平的zui大稱(chēng)量一般在100至200g，其分度值小于（zui大）稱(chēng)量的10-5，如Mettler的AE200型電子天平和Sartoruis的A120S、A200S型電子天平均屬于常量電子天平。

　　5、分析天平：其實(shí)電子分析天平，是常量天平、半微量天平、微量天平和超微量天平的總稱(chēng)。

　　6、 精密電子天平：這類(lèi)電子天平是準(zhǔn)確度級(jí)別為Ⅱ級(jí)的電子天平的統(tǒng)稱(chēng)。

校準(zhǔn)方法：天平置零位，然后持續(xù)按住“CAL”鍵直到CAL int出現(xiàn)為止，下述情況將在校準(zhǔn)時(shí)顯示：天平置零、內(nèi)部校準(zhǔn)砝碼裝載完畢、天平重新檢查零位、天平報(bào)告校準(zhǔn)過(guò)程、天平報(bào)告校準(zhǔn)完畢、天平自動(dòng)回復(fù)到稱(chēng)重狀態(tài)。1、有的人認(rèn)為在電子天平量程范圍內(nèi)稱(chēng)量的物體越重對(duì)天平的損害也就越大。這種認(rèn)識(shí)是不*正確的。一般衡器zui大安全載荷是它所能夠承受的、不致使其計(jì)量性能發(fā)生*性改變的zui大靜載荷。由于電子天平采用了電磁力自動(dòng)補(bǔ)償電路原理，當(dāng)秤盤(pán)加載時(shí)（注意不要超過(guò)稱(chēng)量范圍），電磁力會(huì)將秤盤(pán)推回到原來(lái)的平衡位置，使電磁力與被稱(chēng)物體的重力相平衡，只要在允許范圍內(nèi)稱(chēng)量大小對(duì)天平的影響是很小的，不會(huì)因長(zhǎng)期稱(chēng)重而影響電子天平的準(zhǔn)確度。