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X射線粉末衍射儀是一種利用X射線衍射原理分析物質晶體結構的儀器，廣泛應用于材料科學、化學、地質、制藥等領域。
X射線粉末衍射儀基于布拉格方程（2dsinθ=nλ）工作。當單色X射線照射到粉末樣品上時，晶體中的原子規則排列使X射線發生衍射，不同晶面散射的X射線相互干涉，在特定方向上產生強衍射峰。衍射線的空間分布和強度與晶體結構密切相關，通過分析衍射圖譜可獲得晶體的晶胞參數、原子排列等信息。
儀器主要由以下部分構成：
X射線發生器：提供穩定的高強度X射線源，通常使用Cu靶或Co靶，波長可調。
測角儀：精確控制樣品與探測器的角度，確保衍射數據的準確性。
探測器：檢測衍射X射線的強度，常用探測器包括閃爍計數器和固體探測器。
樣品臺：支持粉末樣品的放置和旋轉，確保樣品均勻受照。
數據處理系統：采集、處理和分析衍射數據，生成衍射圖譜。
操作使用時需要注意：
樣品制備：樣品需充分研磨并過篩，避免顆粒過大導致擇優取向。
儀器校準：定期校準X射線發生器和探測器，確保數據準確性。
安全防護：操作時需佩戴防護裝備，避免X射線輻射。
數據分析：結合專業軟件（如HighScore、Jade）進行圖譜解析和物相鑒定。
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