機械雜質測定儀主要用于測定液體、氣體或其他物質中含有的機械雜質（如固體顆粒、沉淀等）。它的工作原理根據不同的應用場景和儀器類型有所不同，但通常包括以下幾個基本原理和方法：

1. 光學原理

許多機械雜質測定儀利用光學原理來檢測雜質的存在，通常是通過光束的散射或吸收來判斷雜質的濃度。這類設備通過一個激光或光源發出一定波長的光束，當光束經過液體樣品時，液體中的雜質顆粒會引起光的散射。光的散射強度與雜質的數量和顆粒大小成正比，因此，通過測量散射光的強度，可以間接得出雜質的濃度。

典型設備： 光透過率測定儀、激光散射粒度儀等。

2. 重量法

一些機械雜質測定儀使用過濾法與稱重法相結合來測定液體中的雜質含量。該方法首先通過過濾器過濾液體，過濾器會捕捉到固體雜質。過濾后，通過對過濾器上捕集雜質的質量進行稱重，可以計算出樣品中雜質的含量。

流程：

先稱量一個干凈的過濾器。

將液體通過過濾器。

然后再稱量過濾器，得出雜質的質量。

最后，通過計算過濾前后質量的差值來得出雜質的含量。

3. 沉降法

沉降法基于不同粒子的沉降速度不同的原理。樣品中雜質顆粒通過某種方式沉降在容器底部，沉降的顆粒可以通過顯微鏡觀察或通過設備測量沉降的速度和量，從而推算出液體中的雜質濃度。

原理： 根據斯托克斯定律，沉降速度與顆粒的大小、密度、流體的粘度及重力加速度有關。通過測量顆粒的沉降速率，可以分析樣品中機械雜質的類型和含量。

4. 電阻法

機械雜質測定儀也可能通過測量電流變化來檢測雜質的濃度。例如，在一個電導率測量系統中，液體的電導率會受到懸浮顆粒的影響。顆粒越多，液體的電導率會有所變化。通過測量電導率的變化，可以間接推測出雜質的濃度。

典型設備： 電導率傳感器、阻抗分析儀等。

5. 顆粒計數法

顆粒計數法通過對液體樣品中的顆粒進行計數來確定雜質含量。通常通過電子顯微鏡或激光粒度計進行顆粒的精確測量和計數。這種方法可以有效地測定顆粒的數量、大小以及分布情況。

典型設備： 激光粒度儀、光散射粒度計等。