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numerik jena光柵KIT R 411B 92/3600 K01 RA細分誤差
德國NUMERIK JENA成立于1976年，開發(fā)、生產(chǎn)和銷售高分辨率和高精度光電掃描直線光柵尺和旋轉(zhuǎn)編碼器。我們的產(chǎn)品是業(yè)內(nèi)的，其特別小巧的尺寸 - 靈活通用性使這些產(chǎn)品得到廣泛的應用。我們的EPIFLEX讀數(shù)模塊擁有優(yōu)良的性能，特別適用于集成在所有高科技的應用中。
我們擁有先進的生產(chǎn)技術，并用先進技術生產(chǎn)高科技的測量系統(tǒng)。豐富的自主生產(chǎn)設備確保產(chǎn)品的高質(zhì)量和高重復精度。我們致力于不斷提高和開發(fā)創(chuàng)新的產(chǎn)品，在國際市場上贏得市場地位。NUMERIK JENA擁有現(xiàn)代化的生產(chǎn)技術，包括光刻技術、薄膜技術、結構和連接技術、機械生產(chǎn)和組裝技術。這些技術不僅縮短生產(chǎn)時間，還提供更高靈活性。
無論是標準化的產(chǎn)品還是個性化的產(chǎn)品，我們的高質(zhì)量測量系統(tǒng)都是您的理想選擇。我們愿與您一道共同探索能滿足您應用要求的解決方案。
我公司全體員工為您提供支持，幫助您實現(xiàn)創(chuàng)意和在全球各地保持成功
LIKgo是NUMERIK JENA推出的全新、特別設計的直線光柵尺，用以更好地滿足客戶的要求。全新兩場讀數(shù)模塊提升多項性能，簡化用戶的安裝操作。
全新入門級的LIKgo敞開式光學光柵尺性能優(yōu)異，為即將推出的多款產(chǎn)品打造基礎。全新設計還創(chuàng)新地融合NUMERIK JENA產(chǎn)品的突出優(yōu)點。全新LIK系列產(chǎn)品設計的目標是：易用性、廣泛的應用范圍和高質(zhì)量標準。
性能特點
小巧和輕型讀數(shù)頭
20 µm柵距和測量步距達78.125 nm
全新2場掃描技術，提供高的信號質(zhì)量
無相位和偏移誤差
更小細分誤差
極小的功耗和發(fā)熱
無需其它電子電路，在讀數(shù)頭中細分TTL信號
安裝后可進行電子調(diào)試，減小靜態(tài)安裝誤差
改進“調(diào)試工具”的連接
技術參數(shù)
相關產(chǎn)品
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