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使用分光光度法研究二色性

來源:上海斯邁歐分析儀器有限公司   2025年03月11日 17:09  

前言多色性(源自古希臘語 πλ?ον ?更多? + χρ?μα ?色彩?)是一種從不同角度觀察透明晶體時會呈現不同顏色的光學現象[1]。有時顏色變化僅限于明暗變化,例如從淡粉色到深粉色[2]。晶體分為光學各向同性(立方晶系)、光學各向異性單軸(六方晶系、三角晶系、四方晶系)和光學各向異性雙軸(斜方晶系、單斜晶系、三斜晶系)。最大的變化限于三種顏色。此現象可以在雙軸晶體中觀察到,稱為三色性。在單軸晶體中可以觀察到兩種顏色的變化,稱為二色性。多色性通常是涵蓋上述兩種現象的術語[2]。


多色性是由晶體的光學各向異性導致的[1-3]。光學各向異性晶體中的吸光度取決于光波的頻率和光的偏振(其中電矢量的方向)[3, 4]。通常,光學各向異性晶體中的任何光線都分為兩條垂直偏振且速度不同(v1、v2)的光線,其速度與折射率(n1、n2)成反比[4]。在單軸晶體中,只有一個方向決定光學各向異性,而所有垂直于它(或與它成給定角度)的方向在光學上是等效的。因此,圍繞該軸轉動材料不會改變其光學行為。這個特殊方向被稱為材料的光軸[5]。這個方向平行于最高次對稱軸:六方晶系為六次軸,三角晶系為三次軸,四方晶系為四次軸[6]。偏振垂直于光軸的光由折射率 no(表示“常規”)決定。偏振方向為光軸方向的光由光學指數 ne(表示“非常規”)決定。對于任何光線方向,都有一個垂直于光軸的線性偏振方向,稱為尋常光線 (ordinary ray)。但是,對于不平行于光軸的光線方向,垂直于尋常光線偏振的偏振方向將有一部分落在光軸的方向上,稱為非尋常光線 (extraordinary ray)。尋常光線的折射率始終為 no,而非尋常光線的折射率將介于 no 和 ne 之間,具體取決于折射率橢球描述的光線方向[5]。


因此,如果光沿著光軸穿過晶體,則樣品圍繞光的方向旋轉不會改變顏色或明暗程度。如果光沿著垂直于光軸的方向傳播,那么我們可能會觀察到,樣品圍繞光的方向旋轉時,顏色或明暗會隨之變化 ― 這就是二色性。二色性的關鍵特點如下[2, 7, 8]:– 二色性只能在單軸晶體中觀察到– 有色單軸晶體可能不具備二色性(或者二色性可能微弱,肉眼無法觀察到,但可以通過高精度的光學儀器檢測到)– 在可見光波長范圍內,無色晶體在 UV 或 IR 波長范圍內可能表現出二色性二色性是吸收中心各向異性的表現[7]。二色性可以在非偏振光中觀察到,但在偏振光中,如果入射光的偏振面與在晶體中傳播的光的偏振面(常規或非常規波)相匹配,則二色性可能會更顯著。光線的吸光度差異可能很小,也可能很大,在報告光學特性和使用晶體時都應納入考慮。因此,任何單軸晶體都應檢查二色性。


實驗部分設備我們使用配備全能型測量附件 (UMA) 的 Agilent Cary 5000UV-Vis-NIR 分光光度計來研究二色性。借助該系統,我們能夠在波長范圍內進行實驗– 非偏振光 ― 190–2800 nm– 偏振光 ― 250–2500 nm該系統配備了由計算機控制的自動偏振器,可使用偏振光進行實驗。Cary 5000 儀器的準確度足夠高,即使在二色性非常微弱,且肉眼觀察樣品時似乎透明無色的情況下,也能提供二色性數據。


樣品樣品應具有 2 個平行于光軸的拋光平行平面。理想的樣品應為定向樣品 ― 當確切地知道晶體軸(與對稱元素相關的軸)X 和 Y 的坐標時。方法二色性現象的研究內容包括,在樣品的同一部位獲得兩個光譜:– 在使用非偏振光的情況下,樣品應在樣品架中圍繞光線旋轉 90 度– 在使用偏振光的情況下,用偏振器分別在 0 度和 90 度位置測量兩個光譜

結果CaMoO4 的定向立方體使用 Cary 5000 UMS 儀器測量。立方體的平面垂直于光軸(Z 軸或四次對稱軸)和二次軸(X 和Y)。CaMoO4 屬于四方對稱,具有兩種折射率 No 和 Ne。實驗沿 X、Y 和 Z 軸進行。


肉眼觀察二色性СаМоО4 單晶樣品中的二色性可以通過肉眼觀察到,如圖 1所示。

使用分光光度法研究二色性

根據公式 (3),我們計算了衰減系數,根據公式 (2) ― 計算了二色性的程度,并繪制了它們的光譜相關性(分別在圖 3 中由左側和右側數軸表示)x


如果對比 2 條實線或 2 條虛線,會發現衰減的各向異性不明顯:X 軸中的值與 Y 軸中的值一致(圖 3,上圖)。但是,如果對比 2 條黑線(沿 X 軸測量)或 2 條灰線(沿 Y 軸測量),將觀察到兩個位置的衰減之間的差異 ― 衰減隨著圍繞入射光線旋轉 90° 而變化。這種差異在 450 nm 處達到最大值0.3 cm-1(虛線點曲線,圖 3,上圖)。這就是光譜相關性的二色性。同樣隨著樣品的旋轉,衰減帶的最大值會發生變化,導致顏色變化。沿 Z 軸方向(平行于光軸),樣品兩個位置的衰減沒有明顯變化(圖 3,下圖)。這種現象也可能發生在任何其他雙折射材料中。例如,Kozlova N. S., Buzanov O. A., Zabelina E. V., Kozlova A. P.,Bykova M. B. in "Point Defects and Dichroism in Langasite andLangatate Crystals" (Crystallography Reports. – 2016. - Vol.61. - No. 2. - p. 275–284.) 報道了三角晶體中的二色性


結論配備全能型測量附件 (UMA) 的 Cary 5000 UV-Vis-NIR 分光光度計可提供所需的測量靈活性,S/P 偏振控制可確定雙折射材料的二色性程度。使用非偏振光和偏振光(平行于光軸和垂直于光軸)沿晶體軸(X,Y,Z)測量 %R 和 %T。將 UMA 檢測器自動定位在樣品周圍 340° 弧內的任何點,來進行分光光度測量。在研究和解析雙折射材料的光學特性時,應考慮二色性。結果證明,配備 UMA 的 Cary 5000 是適用于此類分析的便捷工具。



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