在材料科學與光電器件研發的前沿領域，光致發光量子效率（PLQY）的精確測量對理解材料光學特性、優化光電器件性能意義重大。光致發光現象廣泛存在于有機金屬復合物、熒光探針、染料敏化型 PV 材料、OLED 材料、LED 熒光粉等多種材料中。隨著這些領域的飛速發展，對光致發光量子效率測量的準確性、高效性和靈活性提出了更高要求。傳統測量設備在面對復雜多樣的測量場景和高精度測量需求時，往往難以滿足。東譜科技憑借深厚的技術積累和對市場需求的敏銳洞察，推出了光致發光量子效率測量系統 HiYield - PL，為行業帶來全新解決方案。

（一）原理

光致發光（Photoluminescence 簡稱 PL），是指物體在受到外界光源照射時，獲得能量，受激發光的現象，也指物質吸收光子（或電磁波）后重新輻射出光子 (或電磁波) 的過程。在量子力學理論中，這一過程可描述為物質吸收光子躍遷到較高能級的激發態后返回低能態，同時放出光子。

（二）技術特點

HiYield - PL 采用靈活的模塊化架構，可根據不同測量場景和用戶需求定制化配置。無論是科研機構的基礎研究，還是企業的大規模生產檢測，都能精準適配，確保在各種復雜條件下穩定、高效地獲取 PLQY 數據。

為減少人為操作誤差，提高測量重復性，該設備可選配自動進樣系統。該系統能按預設程序自動完成樣品的裝載、定位和測量，極大提高測量效率和數據可靠性。

配備自動化軟件，實現一鍵測量所有參數的功能。軟件具備直觀操作界面和智能化數據處理能力，操作人員無需復雜培訓即可輕松上手，大大縮短測量周期。

（三）技術優勢

HiYield - PL 在設計上充分考慮抑制各種干擾因素，采用高靈敏度探測器和精確光學系統，能實現對光致發光量子效率的高精度測量，為科研和生產提供可靠數據支持。HiYield - PL可適用于薄膜、粉末、液體等多種形態的光致發光材料，涵蓋從有機到無機的各類材料體系，滿足不同用戶在不同領域的多樣化測量需求。設備具備快速的數據采集和處理能力，能在短時間內完成大量樣品的測量和分析，有效提高工作效率，尤其適用于大規模生產線上的質量控制和研發過程中的快速篩選。

（四）技術功能解釋

HiYield - PL能準確測量材料的發光量子效率，即發射光子數與吸收光子數之比，同時還可對內量子效率精確評估，為深入研究材料發光機制提供關鍵數據。

可測量激發波長依賴量子效率、藍光吸收比、衰減比等多種效率參數，全面反映材料在不同激發條件下的性能變化，有助于用戶深入了解材料光學特性。

涵蓋光譜功率分布、輻射通量、光子數、光通量、光視效能、峰值波長、中心波長等參數的測量，為材料光學性能評估提供豐富維度。

能精確測量 CIE 色度坐標、相關色溫（CCT）、MK - 1（mired）、顯色指數（CRI）、RGB 顏色值等色度學參數，滿足光電器件在顏色特性方面的測量需求。

可實時監測 PLQY - t、λ - t、Radiance - t、Lumen - t、K - t、CIE - t、CCT - t、CRI - t 等衰減參數，為研究材料穩定性和壽命提供重要依據。（插入衰減參數隨時間變化的曲線示例圖，標注橫坐標為時間，縱坐標為不同衰減參數，解釋曲線變化反映的材料穩定性和壽命信息）