實現極弱近紅外區域測量光譜輻射計SR-NIR

來源：玉崎科學儀器（深圳）有限公司 2025年02月17日 19:00

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近年來，“近紅外區域”測量的需求不斷增加，尤其是在顯示器和照明市場。此外，沒有測量儀器可以輕松且高精度地測量這一點。鑒于這種情況，我們基于SR系列光譜輻射計所積累的技術，開發了“SR-NIR近紅外光譜輻射計”。該產品與SR系列光譜輻射計配合使用，可以測量380nm至1030nm的光譜輻射度。

- 可測量FPD發射的微弱近紅外光- 實現近紅外區域（600 至 1,030 nm）光譜分布的高精度測量?與本公司的SR系列光譜輻射計組合使用時，可以測量從可見光到近紅外（380至1030nm）的光譜分布。

?觀察各種FPD的近紅外輸出?Ne、Ar發射線輸出觀察- 光學薄膜的近紅外透射特性評價等。- 其他光源的近紅外光譜測量

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