FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237功能特點:
◆配備了半導體探測器,由于有更好的信噪比,能更精確地進行元素分析和薄鍍層測量
◆使用微聚焦管可以測量較小的測量點,但因為其信號量較低,不適合測量十分細小的結構
◆底部C型開槽的大容量測量艙
◆有彈出功能的快速、可編程XY平臺
典型應用領域:
◆鍍層和合金的材料分析(還適用于薄鍍層和低含量成分)
◆來料檢驗,生產監控
◆研究和開發
◆電子工業
◆接插件和觸點
◆黃金、珠寶和鐘表工業
◆可以測量數納米薄的鍍層,如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
◆痕量元素分析
◆在有“高可靠性”要求的應用中確定鉛(Pb)含量
◆硬質鍍層分析
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