校準(zhǔn)熱像儀是將其成像與已知溫度關(guān)聯(lián)的過程，以確保準(zhǔn)確測(cè)量檢測(cè)到的輻射。電子部件隨時(shí)間老化可能導(dǎo)致校準(zhǔn)偏差，從而影響溫度測(cè)量精度。

為了了解現(xiàn)場(chǎng)難以進(jìn)行熱像儀校準(zhǔn)的原因，首先看看實(shí)驗(yàn)室中的校準(zhǔn)過程。

在實(shí)驗(yàn)室中，熱像儀校準(zhǔn)在受控條件下進(jìn)行，利用MIKRON黑體輻射源。該黑體具有優(yōu)異的輻射率，可吸收和發(fā)射所有電磁輻射，因此被用作標(biāo)準(zhǔn)。實(shí)驗(yàn)室中的MIKRON黑體輻射源經(jīng)過認(rèn)證，并且可追溯到國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，國(guó)家計(jì)量院同樣使用該產(chǎn)品。

MIKRON黑體輻射源排列成半圓形，并設(shè)定在不同已知溫度下。熱像儀通過機(jī)械臂依次指向每個(gè)參考源，校準(zhǔn)軟件捕獲每個(gè)溫度下的信號(hào)值。根據(jù)信號(hào)值和溫度值繪制曲線，根據(jù)物理模型確定曲線方程。這些數(shù)據(jù)被載入熱像儀進(jìn)行校準(zhǔn)，確保其滿足精度要求。

盡管熱像儀需要在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行校準(zhǔn)以滿足要求，但如果您擔(dān)心其精度，您也可以在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行簡(jiǎn)單的校準(zhǔn)檢查，無需昂貴設(shè)備支持。

自行執(zhí)行校準(zhǔn)檢查時(shí)，請(qǐng)記住，雖然簡(jiǎn)單檢查結(jié)果可能表明熱像儀工作正常，但不能替代定期計(jì)劃的維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性。

為確保有效的校準(zhǔn)檢查，建議在實(shí)驗(yàn)室校準(zhǔn)后立即進(jìn)行基線測(cè)量。您可以使用已知溫度的目標(biāo)物體（例如沸水和融化的冰塊）進(jìn)行對(duì)比測(cè)量。

沸水的溫度約為100℃，需要?jiǎng)×曳序v以確保溫度準(zhǔn)確。避免熱像儀鏡頭上的凝結(jié)水珠影響測(cè)量。

融化中的冰塊的溫度約為0℃，確保其處于融化狀態(tài)，不是直接從冷凍柜取出的冰塊。

在測(cè)量水表面溫度時(shí)，根據(jù)熱像儀手冊(cè)設(shè)置正確的發(fā)射率（通常為0.96）。確保查閱熱像儀手冊(cè)，了解其精度和操作要求。