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鎖相紅外顯微成像系統的測量過程是通過調制施加的電流或電壓，利用視頻鎖相算法來達到降低背景噪聲的目的。利用這個技術，器件的失效點可非常準確地被定位。
鎖相紅外顯微成像系統是一款非破壞性電性故障定位設備，它可以直接快速地透過IC正面或背面來找出缺陷所在位置。它利用高靈敏度的中(長波)紅外探測器在IC通電情況下探測缺陷位置熱輻射的分布，以此定位失效點，是實驗室研發、檢測、IC產品設計、電路失效分析領域的理想失效分析工具。
該系統將鎖相技術和熱成像技術結合,具有高達1mk的超高溫度分辨率,非常適合漏電流檢測,PCBA短路熱點失效分析和IC器件缺陷定位,遠遠超過傳統的溫度探測器如熱敏電阻、熱電偶、RTD之類的測溫能力。
本公司提供的LUXET Thermo 50是一款基于非制冷紅外相機的鎖相紅外顯微成像系統。配備了電動垂直運動系統、高幀頻長波紅外相機、廣角鏡頭與顯微鏡頭、高壓源表，可以適用于封裝器件、電路板等多種不同種類器件的失效點定位。
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