膜厚計是測量涂漆表面厚度的測量儀器。

彩繪物體以各種形態存在于我們身邊，如家電、汽車、路標、護欄等。

油漆涂得太多不僅浪費油漆，而且還會造成裂縫。

另一方面，如果涂料用量太少，則會因基體暴露而造成變色、光澤變差，甚至生銹。

因此，在涂裝過程中控制膜厚非常重要，并且使用膜厚計來測量膜厚。

光譜干涉膜厚測量裝置

用寬波長帶的光照射測量對象，根據從正面和背面反射的光的干涉強度光譜來測量膜厚。

膜厚可以通過測定結果除以測定對象物的折射率來求出。

在多層膜的情況下，可以通過干涉在每個膜之間的界面處反射的光來測量每個膜的厚度。

電磁膜厚計

當探頭與測量對象接觸時，磁通密度根據磁鐵“拉力”的強度而變化，根據流過測量對象的電流量的變化來測量膜厚。電磁鐵。可以測量在時間金屬基材上涂覆或襯里的涂膜(非磁性金屬層、無機層、有機層)的膜厚度。

- 如果涂層很薄，探頭和基材之間的距離很近，因此流過探頭磁鐵的電流會很大。

- 如果漆膜較厚，探頭與基材之間的距離會變長，流過電磁鐵的電流量的變化會變小。

利用探針處磁鐵的拉力與到基材的距離成正比的特性來計算薄膜厚度。

如果漆膜已經具有磁性，則無法進行準確的膜厚測量。

底座：鐵、鋼、鐵素體不銹鋼等磁性材料

涂膜：電鍍、油漆、樹脂膜等非磁性材料。

渦電流式膜厚計

通過觸摸包含線圈的探針并測量通電時產生的渦流來測量薄膜厚度。

- 如果薄膜較薄，探頭與基材之間的距離較近，因此在金屬表面產生的渦流較強。

- 如果漆膜較熱，則探頭與基材之間的距離會較遠，因此數值會較弱。

利用金屬表面產生的渦流值與到基材的距離成正比的性質來計算膜厚。

渦流膜厚計分為通過渦流的振幅測量膜厚的“接觸式”和通過渦流的相位差測量膜厚的“非接觸式”。

使用渦流膜厚計的條件是涂膜是不導電的絕緣膜。

底座：非磁性金屬，如鋁或銅

涂膜：塑料、樹脂、橡膠等絕緣膜。

赤外線膜厚計

基于通過用紅外線照射測量目標并分析透射光(或反射光)而獲得的光譜來測量膜厚度。

當漆膜受到紅外線照射時，根據漆膜的材料和厚度，在特定波長下會發生紅外線吸收現象。

根據漆膜所用材料的“吸收率與膜厚的關系”，可以計算出被測物體的膜厚。

在需要實時測量結果的現場，通常采用3波長法來減少與膜厚測量不直接相關的因素的影響（例如光源的波動、測量目標顏色的渾濁、 ETC。）。

超音波膜厚計

將探頭與待測物體接觸，根據傳感器發射的超聲波從基材反射并返回所需的時間來測量薄膜厚度。

使用超聲波膜厚計測定的膜厚如下求出。

D=1/2×C×t

D：膜厚（m），C：測量目標的聲速（m/s），t：超聲波來回傳播到測量目標的時間（s）

針對每種材料確定測量目標的聲速近似值。然而，即使是相同的材質，不同的類型也會造成聲速的差異。因此，在使用超聲波膜厚計時，需要根據實際的測量對象進行調整（校準）。