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掃描電子顯微鏡(SEM)是一種介于透射電子顯微鏡和光學顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品，通過光束與物質間的相互作用，來激發各種物理信息，對這些信息收集、放大、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的。
電子顯微鏡是根據電子光學原理，用電子束和電子透鏡代替光束和光學透鏡，使物質的細微結構在高的放大倍數下成像的儀器。掃描電子顯微鏡(scanning electron microscope)，簡稱掃描電鏡(SEM)，是電子顯微鏡的一種。掃描電子顯微鏡主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態，即用狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產生各種效應，其中主要是樣品的二次電子發射。二次電子能夠產生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點成像的方法獲得放大像。
掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡的優點是：
①有較高的放大倍數，20-200000倍之間連續可調；
②試樣制備簡單，目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區成分分析(即SEM-EDS)，因此它是重要的科學研究儀器之一；
③有大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構。
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