手機版
化工儀器網手機版
化工儀器網小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關注視頻號
densoku渦流膜厚儀的原理分析
當帶有高頻電流的探頭（探針線圈）靠近金屬時，金屬表面會產生渦流。
這種渦流受高頻磁場的強度和頻率、金屬的導電性、厚度、形狀等影響，穿透深度和大小不同。
然后渦流流動以抵消探頭的高頻磁場，改變探頭的高頻電阻值。
這種高頻電阻變化的幅度一般與膜厚值不成正比。
通過參考內置或用戶創建的特性曲線（校準曲線）轉換為薄膜厚度值。
渦流膜厚測試儀特點
-
幾乎可以測量金屬上的所有薄膜（鋁、鋅、鉻等上的氧化膜，鐵上的電鍍和涂漆）
或非金屬上的幾乎所有金屬薄膜（塑料上的電鍍等）。 -
非常適合 檢查，因為它可以在短時間內（1 秒內）進行非破壞性測量。
-
也可以測量曲面、球面、管道內表面（φ12.7 mm或更大）。
使用示例
-
測量樹脂上的鋁薄膜。示例：應用于汽車前照燈反射器的鋁沉積（從 100 納米起）的質量控制。
-
鋁上氧化鋁膜厚度測量
-
鐵上鍍鋅的膜厚測量（與熒光X射線膜厚儀結合使用）
-
陶瓷鍍鎳的厚度測量
相關產品介紹
渦電流式膜厚計 DMC-211
渦電流式膜厚計 DS-110
相關產品
免責聲明
- 凡本網注明“來源：化工儀器網”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網”。違反上述聲明者，本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源（非化工儀器網）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起一周內與本網聯系，否則視為放棄相關權利。
采購中心