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原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，AFM），是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件（探針）之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。
AFM可以對樣品表面形態、納米結構、鏈構象等方面進行研究，獲得納米顆粒尺寸，孔徑，材料表面粗糙度，材料表面缺陷等信息，同時還能做表面結構形貌跟蹤（隨時間，溫度等條件變化）。也可對樣品的形貌進行豐富的三維模擬顯示，使圖像更適合于人的直觀視覺。結合儀器的各種標準操作模式以及附件，可在進行高分辨成像的同時，獲得包括樣品力學、電學、磁學、熱力學等各項性能指標。
原子力顯微鏡使用的注意事項：
①粉末/液體樣品請備注好制樣條件，包括分散液、超聲時間及配制濃度；
②測試壓電、表面電勢的材料需要將樣品制備在導電基底上，基底大小＞0.5*0.5cm；
③PFM、KPFM測試需要樣品表面十分平整，粉末測試很難測到較好結果，下單前請確保風險可接受；
④塊狀樣品需要固定好，避免在寄送過程產生晃動或摩擦影響測試結果；
⑤超聲不超過20min，如需長時間超聲，需要自己超聲好以后給我們，但是長時間超聲后，對樣品的影響會比較大，需自行承擔測試風險；
⑥常規測試項目每樣提供2~3張圖片，特殊測試項目每樣提供1~2張圖片，力曲線每樣測試3~5條。
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