菲希爾x射線測厚儀XDL240產品介紹
德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240
X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,采用自動方式,測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產的零部件上的鍍層。
德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀
簡介
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析,同時還能全自動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL 240 特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
典型的應用領域有:
• 測量大規模生產的電鍍部件
• 測量超薄鍍層,例如:裝飾鉻
• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
• 全自動測量,如測量印刷線路板
• 分析電鍍溶液
XDL 240 有著良好的長期穩定性,這樣就不需要經常校準儀器。
比例接收器能實現高計數率,這樣就可以進行高精度測量。
由于采用了 FISCHER *基本參數法,因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。
設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。馬達驅動的 XY 工作臺,當測量門打開時,工作臺會自動移到放置樣品的位置;馬達驅動的 Z 軸系統,可編程運行。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以精確定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。配備了激光點,可以輔助定位并快速對準測量位置。
測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計,由此儀器就可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如:大型的印制電路板。
帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放,并且允許測量點的精確調整。
所有的儀器操作,以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示,都可以通過功能
強大而界面友好的 WinFTM軟件在電腦上完成。
XDL 型鍍層測厚及材料分析儀作為受*保護的儀器,型式許可*符合德國“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法規的規定。
免責聲明
- 凡本網注明“來源:化工儀器網”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的,應在授權范圍內使用,并注明“來源:化工儀器網”。違反上述聲明者,本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源(非化工儀器網)的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,必須保留本網注明的作品第一來源,并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題,請在作品發表之日起一周內與本網聯系,否則視為放棄相關權利。