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日本nagano露點儀的類型和原理介紹
電容
式鋁基經過電解，在其表面形成多孔氧化鋁層。許多氣孔在氧化鋁表面呈梳狀規則分布，金沉積在該表面上。將氧化鋁與這樣配置為兩極的鋁基和金薄膜夾在中間的阻抗元件是在檢測單元中使用的氧化膜傳感器。
-鏡面冷卻型
溫度傳感器（PT100Ω）嵌入在鍍銠銅的鏡面部分，可以測量鏡面溫度。Pelche 元件與鏡子背面緊密接觸，可調節鏡子溫度。鏡面上部有光源和受光元件，光源發出的光照射鏡面并安裝成反射光進入受光部。
測量氣體通過傳感器頭以改變鏡子的溫度。如果先降低鏡面溫度，當鏡面溫度低于測量的氣體露點時，鏡面會出現結露。這種冷凝會改變從鏡子反射的光量。當到達受光部的光量減少時，鏡面溫度會升高。當鏡面溫度升至測量氣體露點以上時，露點消失，到達受光部的光量返回。通過連續進行該操作，最終會收斂到結露消失的平衡狀態的溫度。換言之，這是被測氣體的露點溫度。
- 五氧化二磷型
兩根鉑絲纏繞在一定長度的石英管表面。五氧化二磷以薄膜形式涂敷以覆蓋這兩條線的表面，這成為檢測部分。檢測器安裝在允許一定量氣體流動的氣流外殼中。
將兩根鉑絲用作電極，并對其施加恒定電壓。當含有水的氣體通過檢測器時，氣體中的水被五氧化二磷劇烈吸附，將氣體中所含的水全部電解。由于根據法拉第定律，電解電流與含水量之間的關系是成正比的，因此通過調節通過檢測單元的氣體流量，可以將含水量作為電解電流來掌握。例如，100 cc / m 對應于每 1 ppm 水 13.14 μA 的電流。
式鋁基經過電解，在其表面形成多孔氧化鋁層。許多氣孔在氧化鋁表面呈梳狀規則分布，金沉積在該表面上。將氧化鋁與這樣配置為兩極的鋁基和金薄膜夾在中間的阻抗元件是在檢測單元中使用的氧化膜傳感器。
-鏡面冷卻型
溫度傳感器（PT100Ω）嵌入在鍍銠銅的鏡面部分，可以測量鏡面溫度。Pelche 元件與鏡子背面緊密接觸，可調節鏡子溫度。鏡面上部有光源和受光元件，光源發出的光照射鏡面并安裝成反射光進入受光部。
測量氣體通過傳感器頭以改變鏡子的溫度。如果先降低鏡面溫度，當鏡面溫度低于測量的氣體露點時，鏡面會出現結露。這種冷凝會改變從鏡子反射的光量。當到達受光部的光量減少時，鏡面溫度會升高。當鏡面溫度升至測量氣體露點以上時，露點消失，到達受光部的光量返回。通過連續進行該操作，最終會收斂到結露消失的平衡狀態的溫度。換言之，這是被測氣體的露點溫度。
- 五氧化二磷型
兩根鉑絲纏繞在一定長度的石英管表面。五氧化二磷以薄膜形式涂敷以覆蓋這兩條線的表面，這成為檢測部分。檢測器安裝在允許一定量氣體流動的氣流外殼中。
將兩根鉑絲用作電極，并對其施加恒定電壓。當含有水的氣體通過檢測器時，氣體中的水被五氧化二磷劇烈吸附，將氣體中所含的水全部電解。由于根據法拉第定律，電解電流與含水量之間的關系是成正比的，因此通過調節通過檢測單元的氣體流量，可以將含水量作為電解電流來掌握。例如，100 cc / m 對應于每 1 ppm 水 13.14 μA 的電流。
每種露點儀類型的標準規格列表
| 電容式 | 鏡面冷卻型 | 五氧化二磷法 | |
|---|---|---|---|
| 測量范圍 | -100 至 + 20°C DP 標準 測量范圍可在標準范圍內改變 | -35℃DP～+側環境溫度 -55℃DPMAX（CL-60·20℃下） | 0.01-1000ppm -110--20℃ |
| 其他 | + 側面特殊范圍是可能的 | 高露點可通過隔熱測量 | |
| 準確性 | ±2℃DP | ±0.5℃DP以下 | 讀數 ± 5% 或 0.4ppm |
| 使用流量 | 1-5L/分鐘 | 0.1-1L/分鐘 | 0.1L/分鐘 |
| 測量壓力 | 大氣壓～1.0Mpa | 氣壓 | 0.25-7.0 巴 |
| 轟天猛將 | 基本沒有 | 基本沒有 | 傳感器部件需要更換 |
露點計
- ND-TA
- ND-SD
- MIRRORCL
- CL-60
- ND-CH
- 五酸化リン式水分計
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