引言：
制造過程所設計創造的產品只包含所需的 組件。有時外物可能作為污染物出現在最終 的產品上，而這種意外的污染影響產品質 量,甚至導致產品不合格。調查需要確定污是什么,來自哪里。紅外光譜法是主要的鑒別材料屬性的分析技術之一。如果污 染物是足夠大,肉眼可見那么簡單(宏觀)，則可以在樣品上直接進行紅外測量。然 而，在許多行業微小的污染物就會導致產品問題，例如電子行業和聚合物行業。 顯微紅外可以檢測、分析和鑒別小到幾微米的樣品，是解決這類問題的理想的工 具。一系列顯微紅外測試模式(透射、鏡面反射和衰減全反射（ATR）)可以測量各 種類型污染物樣品的光譜。
本應用闡述了自動顯微紅外Spotlight TM 200i 系統在成品樣品中檢測和測量不同 類型污染物的使用情況。
自動檢測和分析電子接觸中的污染物 電子接觸為避免在運行中出現問題，要求干凈、無污染。 提交樣本進行分析，可見污染物。樣品被放置在Spotlight 200i的樣品臺上，在軟件中選擇“Visible Image Survey"來 收集全部的信息。如圖1所示。圖1中放大框部分，是運用 Spectrum 10軟件中的“Detect Particles"功能查到的污染 物粒子的結果。
藥片中的纖維污染物 觀察藥片，在表面似乎可見污染物。但是不清楚這個污 染物來自哪里，是在制劑過程中或是后面的外部污染。 將樣品放置在Spotlight 200i的樣品臺上，用反射模式觀 察其可見圖像，如圖3可見纖維物。圖像顯示，大部分纖 維嵌入在藥片表面以下，因此不可能是簡單的加工后表 面污染陷入。 2
譜圖中還包含一種輔料—微晶纖維素的有光譜特征峰（在 3400cm-1附近有羥基的寬吸收峰；在1020cm-1處有C-O吸 收峰）。然而在用混合物檢索功能獲得的顯微材料被鑒定 為聚氯乙烯，如圖6所示
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