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產品創新點
操作簡便，性價比高，維修費用更低。
詳細介紹
X射線鍍層測厚儀
使用X熒光射線可以非接觸非破壞快速分析膜厚
使用X熒光射線可以非接觸非破壞快速分析膜厚
＊ 兼容Microsoft Windows操作系統之軟件
＊ 可測單層, 多層 1-6層, 合金厚度及比例
＊ 藥水分析功能.
＊ 擁有多種 Filter 選擇性
＊ 定點自動定位分析
＊ 光徑對準全自動化
＊ 自動顯示量測參數
＊ 2D/3D, 任意位置量測控制
＊ 雷射對焦與自動定位系統
＊ 溫控穩定延長校準時效
＊ 20X 倍放大攝影系統.
＊ X-ray運作待命睡眠控制
＊ 全進口美日系零件價格優勢以及快速服務時效
＊ 彩色區別量測數據,多重統計顯示窗口與報告編輯應用