單片OLED器件IVL測量的系統概述：對于OLED科研類機構用戶，僅考慮測試功能和精度，不考慮測試效率的情況下，可選擇單工位的IVL及視角測試系統。與多工位機臺相比，僅保留一個帶視角的工位和治具，機臺尺寸更緊湊。同時可取消選配工業視覺對位相機。

　　單片OLED器件IVL測量的軟件介紹：

　　I-V-L曲線測量的設定：

　　1.可以設定起始電壓、終止電壓、電壓步長，進行連續的測量。

　　2.可以設定起始電流密度、終止電流密度、電流密度步長，進行連續測量。

　　3.可以單獨設定電流密度的亮度檢測下限值，低于下限值時僅測電流電壓，超過下限值后同時測電壓電流亮度等數據。

　　4.可以設定并保存設定的機種參數，下次測量時可以直接調用。

　　I-V-L的測量數據：

　　測量的結果包括：亮度L(cd/m2)，電流效率(mA/cm2)，發光效率，外量子效率，色坐標(x，y)，色溫，顯色指數CRI，發光光譜。

　　輸出的測量項報表中的圖表包括：Cdens-V，Cdens-L，Cdens-LumE，Cdens-EQE，CIE1931，Spectra。