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一、技術參數：

ARL Quant’X 熒光能譜儀

應對RoHS指令 ――快速分析

超大Si(Li) 晶體，具有*的痕量分析的靈敏度，打破lng的檢測限壁壘

全數字脈沖處理器技術，死時間達60%， 以及優異的峰背比

高級FP無標樣分析軟件，進行無標樣分析，減少對標樣的依賴性

高靈敏電制冷Si(Li) 探測器技術, 儀器免維護和*運行

超大樣品室，可容納300mm*(乘號)400mm的樣品

全自動校準，自動監測，自動報警系統，*計算機控制

鍍層和薄膜測量技術, 具有無標樣分析測厚技術

二、主要特點：

ARL Quant’X 熒光能譜儀

具有廣泛的應用如：ROHS-WEEE電子廢棄物中重元素分析，各種合金及貴金屬成分分析，環境污染氣溶膠的測度，考古文物保護,刑偵痕量分析,營養品分析，磁性介質和半導體的薄膜渡層厚度分析，各種油品中成分分析，納米至微米鍍層厚度測量，土壤，催化劑，礦石，原材料等。

用于材料的無損分析可選擇液氮致冷或電致冷Si(Li) 探測器 從氟至鈾的多元素分析測定的濃度范圍一般可以從ppm級至* 技術參數