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首頁 >> 技術(shù)文章 >> 二次元影像測量儀的工作原理
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光源照明:
通過底部透射光(背光)或頂部表面光(環(huán)形光、條形光等)對被測物體進行照明,突出被測特征(如邊緣、孔洞、紋理等)。
光源亮度、顏色(單色光 / 白光)和照射角度可調(diào)節(jié),以適應(yīng)不同材質(zhì)(如透明、反光、深色)物體的成像需求。
光學(xué)鏡頭:
由物鏡、變焦鏡組等組成,將物體放大成像到圖像傳感器上。鏡頭的倍率(如 10 倍、20 倍、50 倍)決定了測量的精度和視野范圍(倍率越高,視野越小,精度越高)。
部分設(shè)備配備 自動變倍鏡頭,可根據(jù)測量需求自動切換倍率。
圖像傳感器(CCD/CMOS):
將光學(xué)圖像轉(zhuǎn)換為電信號,經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D 轉(zhuǎn)換)后形成數(shù)字化圖像(像素矩陣)。
傳感器的分辨率(像素數(shù)量)直接影響測量精度,像素密度越高,圖像細節(jié)越清晰。
圖像傳輸:
數(shù)字化圖像通過 USB、HDMI 或?qū)S媒涌趥鬏斨劣嬎銠C,由測量軟件進行處理。
預(yù)處理:
對原始圖像進行去噪、增強對比度、邊緣銳化等處理,提高特征識別的準(zhǔn)確性。
邊緣檢測:
利用算法(如 Canny 算子、Sobel 算子)識別圖像中物體的邊緣輪廓,確定被測特征的邊界(如直線、圓、圓弧等)。
特征擬合:
對邊緣點進行數(shù)學(xué)擬合,例如將離散邊緣點擬合成直線或圓,計算其幾何參數(shù)(如長度、直徑、圓心坐標(biāo)等)。
坐標(biāo)系映射:
通過 標(biāo)定(Calibration) 建立圖像像素坐標(biāo)與實際物理坐標(biāo)的映射關(guān)系(單位像素代表的實際長度,如 1 像素 = 0.01mm),消除鏡頭畸變誤差。
機械運動系統(tǒng):
由 X、Y、Z 軸導(dǎo)軌(二維設(shè)備無 Z 軸)、滾珠絲桿、伺服電機或步進電機組成,驅(qū)動工作臺或鏡頭移動,實現(xiàn)對被測物體的逐點或全域掃描。
高精度設(shè)備配備 光柵尺 或 磁柵尺,實時反饋運動部件的位置數(shù)據(jù)(分辨率可達 0.1μm 級),確保坐標(biāo)測量的準(zhǔn)確性。
自動測量路徑規(guī)劃:
自動型影像測量儀可通過軟件預(yù)設(shè)測量點或輪廓路徑,電機按指令驅(qū)動工作臺移動,相機自動采集圖像并完成批量測量。
幾何計算:
根據(jù)提取的特征坐標(biāo),計算距離、角度、半徑、弧度、形位公差(如平行度、垂直度)等參數(shù)。
三維影像測量儀(如復(fù)合式測量儀)還可通過多視角圖像或結(jié)合激光掃描、探針接觸等方式,重建物體的三維模型并測量空間坐標(biāo)(X、Y、Z)。
結(jié)果輸出:
測量數(shù)據(jù)以表格、圖形(CAD 圖紙)或報告形式輸出,支持與 CAD 軟件對接或生成統(tǒng)計分析報表(如 CPK 值)。
對于高度方向(Z 軸)的測量,通過電機驅(qū)動鏡頭或工作臺上下移動,利用圖像清晰度評價算法(如灰度梯度法)自動找到最佳對焦平面,實現(xiàn)高度、臺階差等三維參數(shù)的測量。
部分設(shè)備集成 接觸式探針(如觸發(fā)式測頭)或 激光位移傳感器,結(jié)合光學(xué)成像實現(xiàn) “非接觸式 + 接觸式" 混合測量:
光學(xué)成像用于平面輪廓測量;
探針或激光用于測量光學(xué)無法捕捉的特征(如內(nèi)孔深度、盲孔、曲面粗糙度等)。
對于大尺寸物體,通過移動工作臺采集多幅局部圖像,利用軟件拼接成完整全景圖,突破單幅圖像的視野限制,實現(xiàn)大范圍輪廓的一次性測量。
內(nèi)置 溫度補償算法(補償環(huán)境溫度變化對機械結(jié)構(gòu)的影響)和 幾何誤差修正模型(如阿貝誤差、導(dǎo)軌直線度誤差修正),確保高精度測量。
二次元影像測量儀:主要測量二維平面參數(shù)(長度、角度、孔徑等),適用于薄板、PCB 板、齒輪齒形、刀具刃口等平面特征的測量。
三次元影像測量儀(復(fù)合式測量儀):增加 Z 軸運動和三維數(shù)據(jù)處理功能,可測量高度、曲面輪廓、空間角度等,適用于復(fù)雜零部件(如航空葉片、注塑模具、3D 打印件)的全尺寸檢測。
手動型:通過手動旋鈕驅(qū)動工作臺移動,適合小批量、非標(biāo)準(zhǔn)化測量。
自動型:通過計算機程序控制電機自動走位和測量,適合大批量、高精度、重復(fù)性測量任務(wù)。
優(yōu)勢:
非接觸測量,不損傷被測物體;
速度快,適合批量檢測;
數(shù)據(jù)可視化程度高,支持圖形化報告;
可測量復(fù)雜輪廓和微小特征(如微米級結(jié)構(gòu))。
局限性:
受物體表面特性影響大(如反光、透明材料需特殊光源);
三維測量需配合其他傳感器,純光學(xué)三維重建精度有限;
高精度設(shè)備成本較高,對使用環(huán)境(溫度、振動、潔凈度)要求嚴格。
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