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Xi1M德國OPTRIS歐普士 工業(yè)自主短波紅外熱像儀
參考價: 1500
訂貨量: 1
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • Xi1M 產(chǎn)品型號
  • Optris/德國歐普士 品牌
  • 經(jīng)銷商 廠商性質(zhì)
  • 成都市 所在地

訪問次數(shù):49更新時間:2025-04-18 15:36:42

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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)地類別 進口 產(chǎn)品種類 接觸式,便攜式,在線式,固定式,非接觸式,手持式
價格區(qū)間 1萬-5萬 應用領(lǐng)域 綜合
德國OPTRIS歐普士 工業(yè)自主短波紅外熱像儀 Xi1M
Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀,擅長對具有挑戰(zhàn)性的物體進行非接觸熱成像。
產(chǎn)品介紹

德國OPTRIS歐普士 工業(yè)自主短波紅外熱像儀 Xi1M


德國OPTRIS歐普士 工業(yè)自主短波紅外熱像儀 Xi1M

Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀,擅長對具有挑戰(zhàn)性的物體進行非接觸熱成像。它能夠精確測量熱金屬、鋼鐵、陶瓷和半導體的表面溫度。憑借自主熱測量能力和電動對焦功能,該熱像儀在工業(yè)環(huán)境中提供了可靠性和便利性,無需額外的硬件。它配備了以太網(wǎng)、USB 接口,以及模擬和數(shù)字過程接口,實現(xiàn)了與控制系統(tǒng)和機械設(shè)備的無縫集成。

工業(yè)以太網(wǎng)短波紅外熱像儀

寬測量范圍從 450°C 到 1800°C,無需子范圍

尺寸小且堅固,配備電動對焦

高動態(tài) CMOS 探測器,分辨率為 396 x 300 像素

自主運行,帶自動熱點查找和直接模擬或報警輸出,并具有多種現(xiàn)場總線通信選項

Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀,在非接觸熱成像領(lǐng)域提供了創(chuàng)新、經(jīng)濟實惠和高精度的性能,專門用于測量具有挑戰(zhàn)性的物體表面溫度。設(shè)計在短波紅外范圍內(nèi)工作(波長:0.85 – 1.1 μm),這款前視紅外熱像儀專為捕捉熱鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷和半導體的精確表面溫度分析而設(shè)計。為了滿足各行業(yè)的嚴格要求,Optris Xi 1M 提供了寬廣的高溫測量范圍、準確性和可定制的視場配置。


產(chǎn)品規(guī)格



型號Xi1M 7°x5°Xi1M 14°x10°Xi1M 28°x21°Xi1M 7°x5° CF
探測器
光學分辨率全分辨率:396×300 像素(以太網(wǎng));
子幀模式:132×100 像素(USB,自主模式);
線掃描:396×8 像素(以太網(wǎng));
線掃描:396×1 像素(以太網(wǎng),自主模式)
像素間距15 µm
探測器CMOS
光譜范圍高溫測量: 0.85 – 1.1 µm
光學濾鏡
幀率20 Hz
光學
視場角7°x5° (396×300 像素)14°x10° (396×300 像素)28°x21° (396×300 像素)7°x5° CF (396×300 像素)
焦距 [毫米]50251250
F值2.81.822.8
光學分辨率806:1401:1195:1830:1
到目標的最小距離800 mm300 mm300 mm500 mm
可更換光學器件No


許多由非光亮材料組成的測量物體在長波紅外光譜范圍內(nèi)顯示出較高且相對恒定的發(fā)射率,而這些材料在長波紅外波段的低發(fā)射率會導致測量結(jié)果的不穩(wěn)定和不可靠。短波 Xi 1M 紅外熱像儀的光譜范圍與大多數(shù)金屬材料的最高發(fā)射率相匹配,從而簡化了遠程溫度測量。此外,根據(jù)普朗克輻射定律,在短波范圍內(nèi)發(fā)射的紅外輻射顯著增加,因此線性發(fā)射率問題對短波溫度測量結(jié)果的重復性影響較小。因此,在考慮到較高的溫度測量范圍時,對高溫光亮材料的非接觸溫度測量應盡可能使用短波段。



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