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產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 綜合 |
產品信息 特 點 可測從0nm開始的低(殘留)相位差 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) (相當于世界快速的0.1秒以下來處理) 無驅動部,重復再現性高 設置的測量項目少,測量簡單...
日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置-成都藤田科技提供
產品信息
特 點
● 可測從0nm開始的低(殘留)相位差
● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
(相當于快速的0.1秒以下來處理)
● 無驅動部,重復再現性高
● 設置的測量項目少,測量簡單
● 測量波長除了550nm以外,還有各種波長
● Rth測量、方位角測量
(需要option的自動旋轉傾斜治具
● 通過與拉伸試驗機組合,可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統屬特注。)
測量項目
● 相位差(ρ[°], Re[nm])
● 主軸方位角(θ[°])
● 橢圓率(ε),方位角(γ)
● 三次元折射率(NxNyNz)
用 途
● 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
● 樹脂、玻璃等透明、非均質材料(玻璃有變形,歪曲等)
原 理
● 什么是RE-200
● RE-200是光子結晶素子(偏光素子)、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合,可高速且高精度的測量位相差(相位差)、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式,沒有偏光子旋轉的機構,系統整體上是屬于小型構造,長時間使用也能維持穩定的性能。
執行擬合/傅立葉變換以計算橢圓度 ε 和方位角 γ 。
產品規格
型號 | RE series |
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樣品尺寸 | 最小10 x 10mm ~大100 x 100mm |
測量波長 | 550nm (標準仕樣)※1 |
相位差測量范圍 | 約0nm ~約1μm |
軸檢出重復精度 | 0.05°(at 3Σ) ※2 |
檢出器 | 偏光計測模塊 |
測量光斑直徑 | 2.2mm x 2.2mm |
光源 | 100W 鹵素燈或 LED光源 |
本體?重量 | 300(W) x 560(H) x 430(D) mm 、約20kg |
Option
● Rth測量、方位角測量※治具本體(旋轉:180° 傾斜:±50°)
● 動旋轉傾斜治具
日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置-成都藤田科技提供