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日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測(cè)量裝置
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號(hào)
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問(wèn)次數(shù)：35更新時(shí)間：2025-02-22 10:06:38
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專(zhuān)業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 不受偏差影響 可對(duì)應(yīng)寬幅樣...
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測(cè)量裝置-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特 點(diǎn)
使用光譜儀實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量
精度高的原因
● 使用高性能多通道光譜儀（型號(hào)：MCPD）對(duì)光譜進(jìn)行解析
● 可獲取較多的透過(guò)率信息 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量
(獲得的透射率信息約為 500 波長(zhǎng)，是其他公司產(chǎn)品的約50 倍）。
超高相位差測(cè)量-超雙折射薄膜可高速、高精度測(cè)量
軸角度補(bǔ)正功能-即使樣品放置有偏離，也可輕松、再現(xiàn)性良好的進(jìn)行測(cè)量
便捷的軟件-極大縮短測(cè)量時(shí)間與處理時(shí)間，操作性大幅UP
產(chǎn)品規(guī)格
測(cè)量項(xiàng)目（薄膜、光學(xué)材料） | 相位差（波長(zhǎng)分散）、慢軸、RTH*1、3次元折射率*1等 |
|---|---|
測(cè)量項(xiàng)目（偏光片） | 吸收軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過(guò)率等 |
測(cè)量項(xiàng)目（液晶cell） | cell gap、預(yù)傾角*1 、扭曲角、配向角等 |
位相差測(cè)量范圍 | 0～60,000nm |
相位差重復(fù)性 | 3σ≦0.08nm（水晶波長(zhǎng)板 約600nm） |
cell gap 測(cè)量范圍 | 0～600μm（Δn=0.1時(shí)） |
cell gap 重復(fù)性 | 3σ≦0.005μm（cell gap 約3μｍ、Δｎ＝0.1時(shí)） |
軸檢測(cè)重復(fù)性 | 3σ≦0.08°（水晶波長(zhǎng)板 約600nm） |
測(cè)量波長(zhǎng)范圍 | 400～800nm（其他可選） |
檢測(cè)器 | 多通道光譜儀 |
測(cè)量徑 | φ2㎜(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格) |
光源 | 100W halogen lamp |
數(shù)據(jù)處理部 | 個(gè)人計(jì)算機(jī)、顯示器 |
樣品臺(tái)尺寸:標(biāo)準(zhǔn) | 100㎜×100㎜（固定樣品臺(tái)） |
option | ·超高相位差測(cè)量 |
*1：必須配備自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)。（option）
測(cè)量案例
固定樣品臺(tái)
自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)
自動(dòng)XY樣品臺(tái)
日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測(cè)量裝置-成都藤田科技提供
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