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日本Otsuka大塚ZETA粒徑測試系統ELSEneoSE
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具體成交價以合同協議為準
  • 產品型號
  • OTSUKA/日本大塚 品牌
  • 代理商 廠商性質
  • 成都市 所在地

訪問次數:35更新時間:2025-02-21 14:25:33

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產品簡介
產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 綜合
日本Otsuka大塚ZETA粒徑測試系統ELSEneoSE-成都藤田科技提供
產品信息 特 點 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策,可對應液晶line內的檢查設備 測量項目...
產品介紹

日本Otsuka大塚ZETA粒徑測試系統ELSEneoSE-成都藤田科技提供

日本Otsuka大塚ZETA粒徑測試系統ELSEneoSE

產品信息

特點

● 可根據用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網眼結構分析、粒徑多角度測定)

● 可以用標準流動池連續測量粒徑和zeta電位

● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位

● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位

● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內進行測量

● 通過溫度梯度功能,可對蛋白質等的變性及相變溫度進行解析

● 通過樣品池內的實測電氣浸透流圖分析,提供高精度的ZETA電位測量結果

● 可安裝熒光濾光器(選配)


用途

非常適用于界面化學、無機物質、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫學領域的基礎研究和應用研究,不僅涉及微小顆粒,還涉及薄膜和平板表面的科學研究。


● 新型功能材料領域

- 燃料電池相關(碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬)

- 納米生物相關(納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子)、納米氣泡等。


● 陶瓷/著色材料工業領域

- 陶瓷(二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等)

- 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制

- 顏料的分散/聚集控制(炭黑/有機顏料)

- 漿料狀樣品

- 濾光器

- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究


● 半導體領域

- 異物附著在硅晶片表面的原理解析

- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究

- CMP漿料的相互作用


● 聚合物/化工領域

- 乳液(涂料/粘合劑)的分散/聚集控制,乳膠的表面改性(醫藥/工業)

- 聚電解質(聚苯乙烯磺酸鹽,聚羧酸等)的功能研究

- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究


● 制藥/食品工業領域  

- 乳液(食品/香料/醫療/化妝品)分散/聚集控制及蛋白質的機能性檢測

- 脂質體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑(膠束)機能性檢測


原理

粒徑測量原理:動態光散射法(光子相關法)

由于溶液中的粒子根據粒子的大小在做布朗運動,粒子受到光照射時會得到的散射光。小粒子呈現快速波動,大粒子呈現緩慢波動。通過光子相關法分析這種波動,就可以求得粒度和粒度分布。

日本Otsuka大塚ZETA粒徑測試系統ELSEneoSE



分析流程

日本Otsuka大塚ZETA粒徑測試系統ELSEneoSE

zeta電位測量原理:電泳光散射法 (激光多普勒法)

對溶液中的粒子施加電場時,可以觀察到粒子電荷所對應的電泳動。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動度。
電泳散射法將光照射在泳動中的粒子上得到散射光,根據散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱之為激光多普勒(Laser Doppler)法。

日本Otsuka大塚ZETA粒徑測試系統ELSEneoSE    




參數


測量原理

粒徑

動態光散射法(光子相關法)

ZETA電位

電泳光散射法(激光多普勒法)


分子量

靜態光散射法


光學系統

粒徑

零差光學系統

ZETA電位

外差光學


分子量

零差光學系統


光源

高功率半導體激光器


探測器

高靈敏度APD


樣品池單元

ZETA電位:標準池 微量一次性池或濃縮池


粒度/分子量:方形池



溫度

0~90℃(帶溫度梯度功能)


電源

220V ± 10% 250VA


尺寸(WDH)

330(W)×565(D)×245(H)


重量

22Kg




測量范圍


ZETA電位

No effective limitations(無有效上限)

電氣移動度

-2×10-5 ~ 2×10-5 cm2/V·s

粒徑

0.6nm ~ 10um


● 對應范圍

測量溫度范圍

0~90℃

測量濃度范圍

Zeta電位:0.001~40% 粒徑:0.00001%(0.1ppm)~40%*1

*1(標準粒子: 0.00001 ~ 10%、牛磺酸: ~ 40%)


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