通用掃描遷移率粒度儀 參考價：面議
掃描電遷儀(通用掃描遷移率粒度儀)是一種用于測量氣溶膠顆粒粒徑分布的高精度儀器，基于 ?電遷移率分類原理，能夠快速、準確地分析納米至微米級顆粒的粒徑與濃度。其核...
Palas粒徑譜 參考價：面議
Palas粒徑譜儀基于光學測量原理，能夠實時檢測氣溶膠顆粒的粒徑分布（通常范圍為納米級至微米級）和數量濃度。其核心優勢在于高分辨率、快速響應和廣泛的適用性。
Palas粉塵發生器 參考價：面議
Palas粉塵發生器采用先進的氣溶膠生成技術，能夠精確控制粉塵顆粒的濃度、粒徑分布和生成速率，為用戶提供穩定且可重復的測試環境。其設計緊湊、操作簡便，適用于實驗...
Palas® LDD 10 級聯稀釋系統 參考價：面議
新開發的Palas® LDD 10 級聯稀釋系統（稀釋倍數10）是第一個可以幾乎無損耗地稀釋高達10 μm的大顆粒的系統。
Palas® VKL 10 級聯稀釋系統 參考價：面議
Palas® VKL 10 級聯稀釋系統可以以確定和可靠的方式通過稀釋系數01:10降低氣霧劑的濃度，也可以降低高濃度的氣霧劑的濃度。
Palas PLG 1000氣溶膠發生器 參考價：面議
PalasPLG 1000氣溶膠發生器是一種用于空調房間的冷霧化器。如果房間無法安裝空調，則應使用可加熱的設備，例如PLG 2000 H。
Palas PAG 1000 獨立氣溶膠發生器 參考價：面議
PalasPAG 1000 獨立氣溶膠發生器為產生液滴氣溶膠提供了最大的靈活性，例如從DEHS生成，尤其是以低濃度生成。
Palas PLG 2000氣溶膠發生器 參考價：面議
PalasPLG 2000氣溶膠發生器是一款冷霧化器，旨在用于空調房間。如果室內無法進行空氣調節，那么應使用可加熱版本的設備，例如PLG 2000 H。
PLG 2000 H氣溶膠發生器 參考價：面議
PLG 2000 H氣溶膠發生器與PLG 2000不同，PLG 2000 H配備了內置的加熱單元，可以達到100°C。
通用掃描遷移率粒度儀 參考價：面議
U-SMPS2050/2100/2200通用掃描遷移率粒度儀，長分類柱（2050/2100型）能夠可靠地確定8至1,200 nm的粒徑分布。 Palas...
Charme® 氣溶膠靜電計 參考價：面議
Charme® 氣溶膠靜電計已在研究應用中被用于測量氣溶膠的平均電荷。如果已知用于單分散氣溶膠粒子的電荷狀態，則這些設備能夠快速、輕松地確定約尺寸≥2...
Palas UF-CPC 50 凝結粒子計數器 參考價：面議
PalasUF-CPC 50 凝結粒子計數器，適用于濃度最高104顆粒/立方厘米（單計數模式）和107顆粒/立方厘米（光度模式）的濃度。
UF-CPC 200凝結粒子計數器 參考價：面議
用于數量濃度高達2 ? 106顆粒/cm3（單計數模式）和107顆粒/cm3（光度模式）的UF-CPC 200凝結粒子計數器。
PM2.5顆粒物檢測系統PM-10 參考價：面議
PM2.5顆粒物檢測系統PM-10可以應用在各種不同的場合，包括大氣氣溶膠測量和燃燒測量。PM-10沖擊儀的的附件包括沖擊儀加熱器，集塵板和泵組來組成一整套測量...
Palas-U-SMPS 1700通用掃描遷移率粒度儀 參考價：面議
Palas-U-SMPS 1700通用掃描遷移率粒度儀是可以進行非?？焖俚臏y量。但是，這種方法需要很高的成本。因此，其適用性被限制于高氣溶膠濃度（例如，燃燒過程...
ENVI-CPC 100納米顆粒計數器 參考價：面議
用于室內空氣監測的ENVI-CPC 100納米顆粒計數器，配有集成的Nafion®氣溶膠干燥器（可選），適用于高達105顆粒/cm3（單計數模式）。
UF-CPC 100凝結粒子計數器 參考價：面議
用于數量濃度高達7 ? 104顆粒/cm3（單計數模式）和107顆粒/cm3（光度模式）的UF-CPC 100凝結粒子計數器。
U-SMPS2050/2100/2200通用掃描遷移率粒度儀 參考價：面議
U-SMPS2050/2100/2200通用掃描遷移率粒度儀，適合各種應用（8–1200nm）。
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