會(huì)員.png)
2
當(dāng)前位置：廣東森德儀器有限公司>>分析儀器>>傅里葉變換紅外光譜儀>> INVENIO傅里葉變換紅外光譜儀
傅里葉變換紅外光譜儀INVENIO的特色
光譜范圍從遠(yuǎn)紅外擴(kuò)展到紫外/可見(jiàn)光
多達(dá)7個(gè)軟件控制探測(cè)器
光譜分辨率優(yōu)于0.085 cm?1
采用時(shí)間分辨光譜技術(shù)，精確到納秒級(jí)
提供一個(gè)備用樣品室，以實(shí)現(xiàn)并行設(shè)置
能同時(shí)進(jìn)行遠(yuǎn)紅外/中紅外檢測(cè)
支持所有帶快速更換支架的采樣附件
以直觀軟件，引導(dǎo)完成工作流
INVNIO擴(kuò)展選件
三個(gè)輸出端口和兩個(gè)輸入端口
FT-IR成像和顯微成像技術(shù)
高通量檢測(cè)
水中蛋白質(zhì)分析
熱重分析
拉曼光譜
光致發(fā)光
外部樣品室，等等
NVENIO傅里葉變換紅外光譜儀是一套堅(jiān)固耐用的全天候工作站，其一系列功能旨在提升您的生產(chǎn)力。該平臺(tái)包含智能軟件監(jiān)控功能，以及可抵抗振動(dòng)和熱效應(yīng)的RockSolid™干涉儀，它們都將幫助您獲得可靠的檢測(cè)結(jié)果。
INVENIO的Transit™功能提供了一個(gè)單獨(dú)的、自帶ATR或透射檢測(cè)探測(cè)器的備用檢測(cè)通道，因而可在任何情況下提供兩種即用的實(shí)驗(yàn)設(shè)置，從而節(jié)省時(shí)間。主樣品室可容納各種附件，從而支持對(duì)幾乎任何樣品進(jìn)行分析。使用Quicklock附件支架上的鎖定和釋放按鈕，即使是體積最大的附件也可輕松插入。
此外，用戶還可輕松地針對(duì)不同的實(shí)驗(yàn)而更換光學(xué)組件，并使用布魯克FM來(lái)執(zhí)行不間斷的分析，該功能可對(duì)任一樣品室中的MIR和FIR同時(shí)進(jìn)行分析，用戶無(wú)需作出任何更改。
從精確的光學(xué)器件和創(chuàng)新的光束路徑，再到耐用的外殼——INVENIO都采用了全新的高品質(zhì)設(shè)計(jì)。它具有高信噪比和優(yōu)于0.085 cm?1的光譜分辨率，再細(xì)小的光譜細(xì)節(jié)亦無(wú)處可遁。
INVENIO不僅光譜精度高，而且功能強(qiáng)大。它的DigiTect™插槽可方便您輕松地插入所選擇的探測(cè)器（例如，液氮冷卻探測(cè)器）。MultiTect™是一組五合一自動(dòng)化探測(cè)器單元，可增加多達(dá)5個(gè)室溫探測(cè)器或熱穩(wěn)定探測(cè)器。在MutiTect™探測(cè)器、DigiTect™插槽和Transit通道之間，INVENIO最多可支持七個(gè)內(nèi)部軟件控制探測(cè)器。
升級(jí)后的INTEGRAL™干涉儀配有自動(dòng)三位分束器更換器，非常適合與MutiTect™配套使用。在此情況下，用戶只需點(diǎn)擊一下，而無(wú)需手動(dòng)更換光學(xué)元件，即可對(duì)28000 cm?1到15 cm?1的整個(gè)光譜范圍進(jìn)行全自動(dòng)分析。
制藥
執(zhí)行QA/QC、研究藥物穩(wěn)定性、研究蛋白質(zhì)、區(qū)分多晶型、進(jìn)行片劑成像等——所有這些任務(wù)均可通過(guò)INVENIO這一臺(tái)設(shè)備來(lái)完成。當(dāng)然，OPUS符合所有主流藥典以及21 CFR第11部分的要求。此外，所有數(shù)據(jù)處理都是安全的，以確保數(shù)據(jù)的完整性。
聚合物
INVENIO可用于研究聚合物生命周期的任何階段——從研發(fā)到回收。鑒定和表征一切形式的聚合物——包括成品、多層聚合物或涂層。通過(guò)擴(kuò)展INVENIO，可執(zhí)行TGA分析，以研究聚合物分解過(guò)程。
化學(xué)
INVENIO已成為化學(xué)品驗(yàn)證、檢測(cè)和表征的化學(xué)分析工具。使用時(shí)間分辨光譜法，可在現(xiàn)實(shí)條件下，對(duì)催化劑或電池進(jìn)行反應(yīng)監(jiān)測(cè)和動(dòng)力學(xué)研究。
材料和設(shè)備開(kāi)發(fā)
由于支持整個(gè)光譜范圍的檢測(cè)，INVENIO非常適合用于測(cè)試新材料、組件和光學(xué)器件。除了有機(jī)化合物、無(wú)機(jī)物質(zhì)和金屬有機(jī)框架（MOF）以外，INVENIO還可用于對(duì)傳感器元件和激光器進(jìn)行表征。
半導(dǎo)體
INVENIO可用于半導(dǎo)體的整個(gè)開(kāi)發(fā)過(guò)程——從硅片質(zhì)量控制，到器件開(kāi)發(fā)。擴(kuò)展附件可添加更多功能，例如，檢測(cè)光致發(fā)光，以及提供FT-IR成像，快速分析大型芯片。
學(xué)術(shù)研究
憑借諸多先進(jìn)功能，INVENIO成為研究應(yīng)用的工具。例如，研究催化反應(yīng)的反應(yīng)機(jī)理、研究新型儲(chǔ)能技術(shù)（光譜電化學(xué)、SEC），以及進(jìn)行基本的手性研究。
