德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀
FISCHERSCOPE ® X-RAY XDL ® 240
X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，采用自動方
式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層
及大規模生產的零部件上的鍍層。
德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀
簡介
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及
材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自
動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。
XDL 240 特別適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。
典型的應用領域有：
• 測量大規模生產的電鍍部件
• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
• 全自動測量，如測量印刷線路板
• 分析電鍍溶液
XDL 240 有著良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器。
比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。
由于采用了 FISCHER *基本參數法，因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣
品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。
設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用戶界面友好的臺式測量儀器。馬達驅動的 X-
Y 工作臺，當測量門打開時，工作臺會自動移到放置樣品的位置；馬達驅動的 Z 軸系
統，可編程運行。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以精確定位測量位置。通過視頻
窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。配備了激光點，可以輔助定位并快速對準測
量位置。
測量箱底部的開槽是專為面積大而形狀扁平的樣品所設計，由此儀器就可以測量比測
量箱更長和更寬的樣品。例如：大型的印制電路板。
帶有放大功能和十字線的集成視頻顯微鏡簡化了樣品擺放，并且允許測量點的精確調
整。
所有的儀器操作，以及測量數據的計算和測量數據報表的清晰顯示，都可以通過功能
強大而界面友好的 WinFTM ® 軟件在電腦上完成。
XDL 型鍍層測厚及材料分析儀作為受*保護的儀器，型式許可*符合
德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規的規定。
德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀
通用 規格
設計用途 能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF)， 用于測定超薄鍍層和溶液
分析。
元素范圍 從元素 氯(17) 到 鈾(92)
配有可選的 WinFTM® BASIC 軟件時，zui多可同時測定 24 種元素
設計理念 臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向 由上往下
X 射線源
X 射線管 帶鈹窗口的鎢管
高壓 三檔： 30 kV，40 kV，50 kV
孔徑（準直器） Ø 0.3 mm 可選：Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；長方形 0.3 mm x 0.05 mm
測量點尺寸 取決于測量距離及使用的準直器大小，
實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的*
zui小的測量點大小約 Ø 0.2mm
X 射線探測
X 射線接收器
測量距離
比例接收器
0 ~ 80 mm，使用保護的 DCM 測量距離補償法
樣品定位
視頻系統
高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置
手動聚焦，對被測位置進行監控
十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸）
可調節亮度的LED照明，激光光點用于精確定位樣品
放大倍數 40x – 160x
電氣參數
電源要求 220 V ，50 Hz
功率 zui大 120 W （不包括計算機）
保護等級 IP40
尺寸規格
外部尺寸 寬×深×高[mm]：570×760×650
內部測量室尺寸 寬×深×高[mm]：460×495x（參考“樣品zui大高度”部分的說明）
重量 120 kg
環境要求
使用時溫度 10°C – 40°C
存儲或運輸時溫度 0°C – 50°C
空氣相對濕度 ≤ 95 %，無結露
工作臺
設計 馬達驅動，可編程 X/Y 平臺
255 x 235 mm
≤ 80 mm/s
≤ 0.01 mm 單向
300 x 350 mm
馬達驅動，可編程運行
140 mm
5 kg，降低精度可達 20kg
140 mm
有
X/Y 平臺zui大移動范圍
X/Y 平臺移動速度
X/Y 平臺移動重復精度
可用樣品放置區域
Z 軸
Z 軸移動范圍
樣品zui大重量
樣品zui大高度
激光（1 級）定位點
計算單元
計算機 帶擴展卡的 Windows ® 計算機系統
軟件 標準： WinFTM ® V.6 LIGHT
可選： WinFTM ® V.6 BASIC，PDM，SUPER
執行標準
CE 合格標準 EN 61010
型式許可 作為受*保護的儀器
型式許可*符合德國“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法規的規定。
德國X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀
訂貨號
FISCHERSCOPE X-RAY XDL240 604-498
如有特殊要求，可與 FISCHER 磋商，定制特殊的 XDL 型號。
FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ® 是 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen – Germany 的注冊商標。
Windows ® 是 Microsoft Corporation 在美國及其他地區的注冊商標。
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