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當前位置：佳譜儀器（蘇州）有限公司>>鍍層測厚儀系列產品>>測厚儀 > 鍍層測厚儀>> 鍍層測厚T450-plus鍍層測厚儀 高性能多用型XRF Si-Pin半導體
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,地礦,建材/家具,電子/電池,綜合 |
鍍層測厚儀 高性能多用型XRF Si-Pin半導體
T450plus系列高性能多用型XRF
涂鍍層分析 | RoHS檢測 | 元素分析 |
T450plus系列為滿足生產管控和研發領域中高精度鍍層厚度或精確材料成分分析而研制的一款多用型X熒光光譜儀，可為任何應用提供優良性能的儀器選擇。
該系列儀器采用微聚焦增強型射線管和數字多道脈沖信號處理技術，同時搭載增強FP算 法軟件與變焦裝置，再加上高性能大面積探測器，無論在檢測微小樣品和凹槽的膜厚性 能，還是RoHS和元素分析方面，均具備出色的重復精度，這也是它廣受客戶、研究所等機構歡迎的原因。
技術參數
型號 | T450 plus | T450S plus |
成分分析檢測 | S（16） - U（92） | Al（13） - U（92） |
涂鍍層分析 | Li（3） -U（92） | |
ROHS檢測 | 標配，檢出限可達2ppm | 標配，檢出限可達1ppm |
算法 | 增強型FP算法 | |
分析軟件 | 可同時分析15層鍍層，24種元素 | |
射線方向 | 從下往上 | |
X射線發生裝置 | 微聚焦增強型射線管 | |
探測器 | 高性能Si-Pin半導體探測器 | FAST SDD探測器 |
高壓 | 0-50KV智能程控高壓系統 | |
準直器 | φ0.3mm(φ0.2mm)/φ0.5mm/φ3mm 多準自動切換 | |
樣品觀察 | 工業 CCD 高清攝像頭 | |
對焦方式 | 手動對焦 | |
放大倍數 | 光學30-50X，數字放大40-160倍 | |
移動平臺 | 微米級移動平臺 | |
操作環境溫濕度 | 10~35℃,濕度≤70% | |
工作電源 | 交流220±5V | |
安全系統 | 多維散熱系統，多重輻射安全系統 | |
性能優勢
高穩定微聚焦集成系統 | 采用自主研發設計的高穩定性微聚焦增強型射線管和聚焦光路系統，最小測量點可達0.25mm。 |
搭載高性能探測器
| 分辨率至129eV±5eV，能量線性和能量分辨率俱佳，具有更高的穩定性和精度。 |
高精度 | 含量檢出限可達1ppm，厚度 檢出限可達1nm。 |
變焦補償算法 | 可對各種異形凹槽件進行無損檢 測，凹槽深度范圍 0-25mm。 |
使用壽命長 | 采用自主研發的多維散熱系統，同時同樣的測試面積功率更低，整機與 射線管使用壽命更長。 |
應用領域
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環保檢測解決方案
歐盟ROHS指令-2011/65/EU | REACH指令 |
無鹵指令[IEC61249-2-21] | 玩具En71指令 |
美國CPSIA消費品安全改進法 | IEC62321標準 |
China-RoHS國推自愿性認證 | GB/T26125-2011 |
T450plus系列高性能多用型XRF
鍍層測厚儀 高性能多用型XRF Si-Pin半導體
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