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當(dāng)前位置：北京盈思拓科技有限公司>>測試設(shè)備>>光學(xué)測試設(shè)備>> Sendira紅外光譜橢偏儀
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更新時(shí)間：2024-11-18 13:19:09瀏覽次數(shù)：668次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 化工儀器網(wǎng)SENDIRA紅外光譜橢偏儀振動(dòng)光譜的特點(diǎn)是傅立葉紅外光譜儀FTIR。測量紅外分子振動(dòng)模的吸收譜帶，分析長分子鏈的走向和薄膜的組成。紅外光譜橢偏儀適用于測量導(dǎo)電膜的電荷載流子濃度。
光譜橢偏儀SENDIRA用于測量薄膜厚度，折射率，消光系數(shù)以及體材料，單層和多層堆疊膜的相關(guān)特性。特別是覆蓋層下面的層在可見范圍內(nèi)是不透明的，現(xiàn)在也可以進(jìn)行測量。同時(shí)可以分析材料的組成和大分子基團(tuán)和分子鏈的走向。
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