低溫探針臺(tái)主要用于電學(xué)、磁學(xué)、微波、THz、光學(xué)等多種測(cè)量，可以根據(jù)客戶需要，選擇不同的溫度和磁場(chǎng)配置。客戶可以選擇自己搭配測(cè)試儀表集成各類測(cè)試，也可以選擇我們的整體測(cè)試解決方案，如電輸運(yùn)測(cè)試、半導(dǎo)體分析測(cè)試、霍爾效應(yīng)測(cè)試、鐵電分析測(cè)試，集成光學(xué)測(cè)試等。

┃ 設(shè)備特點(diǎn)

• ±2.5T磁場(chǎng)，可定制5T磁場(chǎng)

• 低溫至1.6K，高溫至675K

• 可測(cè)8英寸晶圓樣品

• 67GHz高頻探針

• 3 kV 高電壓探針

• 大溫區(qū)低溫漂探針

• 真空腔聯(lián)用傳送樣品

• ＜30 nm低振動(dòng)適用于顯微光學(xué)測(cè)量

• 霍爾效應(yīng)、鐵電、半導(dǎo)體分析測(cè)試選件