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大連創銳光譜科技有限公司

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半導體光學檢測系列

SiC襯底位錯缺陷無損檢測系統

SiC晶圓少子壽命質量成像監測系統

鈣鈦礦太陽能電池綜合性能分析系統

Micro LED晶圓級綜合檢測分析系統

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碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統參考價：面議
碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯缺陷光學無損檢測系統：最高檢測速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分類識別。
型號：廠商性質：生產商所在地：大連市對比

SiC襯底位錯缺陷無損檢測無損檢測儀

2024/12/4 11:14:451305

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