目錄:上海首立實業有限公司>>其余檢測儀器設備>>通用檢測儀器>> RX200紅外線測厚儀RX200
如果把紅外線照射到被測物上,就會發生與膜厚相對應的特定波長的紅外線吸收現象。從透過光或鏡面金屬板的正反射光來掌握吸收量,再按事先測得的吸光度與水分值的關系式,可以測量膜厚。
并且,采用本公司獨自的P偏光入射方式。消除因表面反射或內部多重反射引起的誤差,提供紅外線測厚儀的硬件。
| 項目 | 規格 | |
|---|---|---|
| 測量方法 | 紅外線反射吸收式 | |
| 分光方式 | 旋轉過濾器方式（可以實際安裝6張） | |
| 測量距離 | 25mm（從本體部下面） | |
| 測量面積 | 5×8mm（橢圓） | |
| 尺寸、重量、電源 | 傳感器頭 | 230（W）×134（D）×90（H）、約4.5kg（不含突起部） |
| 數據處理部 | 275（W）×300（D）×165（H）、約6.7kg（不含突起部） | |
| 中繼單元部 | 250（W）×140（D）×113（H）、約3kg（不含突起部） | |
| 外部輸出 | 從模擬0～10v 到4～20mA進行選擇（出廠時設定） | |
| 環境溫度 | 0～40℃（沒有結露） | |
| 電源 | AC100V±10％ 50/60Hz | |
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