13823182047
當前位置：深圳秋山工業設備有限公司>>外觀分析設備>>測試儀>> EC-80日本napson電阻率測試儀半導體/導電薄膜用
日本napson電阻率測試儀半導體/導電薄膜用 EC-80 特點介紹
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀
一種簡單的測量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
使用 JOG 旋鈕輕松設置測量條件
測量目標
半導體能電池材料相關（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料相關（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬、ITO等）
化合物半導體相關（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
日本napson電阻率測試儀半導體/導電薄膜用 EC-80 規格參數
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀
一種簡單的測量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
使用 JOG 旋鈕輕松設置測量條件
測量目標
半導體能電池材料相關（硅、多晶硅、SiC等）
新材料/功能材料相關（碳納米管、DLC、石墨烯、銀納米線等）
導電薄膜相關（金屬、ITO等）
化合物半導體相關（GaAs Epi、GaN Epi、InP、Ga等）
非接觸渦流法電阻率和方電阻手動測量儀
一種簡單的測量裝置，只需將樣品放置在探頭之間即可進行測量。
在電阻率和方塊電阻測量模式之間輕松切換
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
化工儀器網