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當前位置：深圳秋山工業設備有限公司>>光學器件>>測量儀>> MF-5550-0002/MF-5570-0002日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,能源,電子,電氣,綜合 |
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日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 特點介紹
該設備非常適合評估和檢查智能手機和其他設備中安裝的具有鏡頭移位圖像穩定 (OIS) 的相機模塊執行器。
通過使用專用目標，可以高精度、高速地同時測量五個項目：目標物體的傾斜（θX、θY）、位移（Z）和位置（X、Y）。
除了使用激光進行自準直儀角度測量之外，還可以同時測量位移（X、Y、Z）和旋轉角度的測量儀器。
隆重推出可實時捕捉一切的創新產品。這些創新產品將您的測量概念提升到一個新的水平。
此外，我們還將介紹一種利用干涉的鏡頭波前像差測量裝置。
日本katsura高精度測量傾斜、位移等儀器 MF-5550-0002/MF-5570-0002 規格參數
MF-5550-0002
主要規格
測量范圍
傾斜 (θX-θY)：±60 分鐘（圓形范圍）
位移 (Z)：±1mm
位置 (XY)：±0.5mm
工作距離：80±0.5mm
輸出更新率：10,000次/秒
MF-5570-0002
測量范圍
傾斜 (θX-θY)：±60 分鐘（圓形范圍）
位移 (Z)：±1mm
位置 (XY)：±0.7mm
工作距離：80±0.5mm
輸出更新率：10,000次/秒
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