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當(dāng)前位置：深圳秋山工業(yè)設(shè)備有限公司>>外觀分析設(shè)備>>檢測儀>> Crystalline Tester CS1日本ceramic forum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測儀便攜式
產(chǎn)品型號(hào)Crystalline Tester CS1
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間：2024-10-11 12:22:37瀏覽次數(shù)：386次
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日本applics監(jiān)測半導(dǎo)體制造工藝臭氧濃度計(jì)
日本applics溶解臭氧濃度計(jì)分體式監(jiān)測儀
日本進(jìn)口applics臺(tái)式臭氧氣體監(jiān)測儀濃度計(jì)
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
|---|
日本ceramic forum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測儀便攜式 Crystalline Tester CS1 特點(diǎn)介紹
"Crystalline Tester CS1"是非破壞性、非接觸式檢測可見光（波長400～800nm）透明性晶體材料中由于殘留的缺陷、應(yīng)力引起的晶格畸變后分布情況的便捷式檢測設(shè)備。
通過本設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確地把握目檢下無法看到的晶體晶格畸變的狀態(tài)。
日本ceramic forum晶片內(nèi)位錯(cuò)檢測儀便攜式 Crystalline Tester CS1 規(guī)格參數(shù)
產(chǎn)品特長 高速測量（6" 襯底 90秒）
?可以最快速度簡捷方式觀察殘留應(yīng)力分布。
縱向結(jié)晶評(píng)價(jià)
?因?yàn)槭峭敢曅徒Y(jié)晶評(píng)價(jià)裝置，所以不只可以觀察襯底表面，還可以觀察包括Z軸方向的晶圓所有部位。
可取得與X-Ray Topography imaging comparison同等測試效果
?可以取得同等測試效果，實(shí)現(xiàn)高速低成本。
價(jià)格競爭力
?在晶片測量裝置中，屬于性價(jià)比好的一款系統(tǒng)。
可測量材料 SiC單晶襯底、及SiC外延襯底
GaN單晶襯底、及GaN外延襯底
AlN單晶襯底、及AlN外延襯底
可視光可透視、有雙折射效果的結(jié)晶均可。
測試效果不佳材料 ?無可視光透視性材料：Si、GaAs等
?無雙折射效果材料：藍(lán)寶石、Ga2O3 等
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