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| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 0-5萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,能源,電子,電氣,綜合 |
日本rikenkeiki光學測量儀用于半導體材料等 AC-5/AC-3 特點介紹
能夠使用平板開放式計數器對高達 4000 cps 的光電子進行計數
能夠安裝尺寸達 180 x 180 毫米的大型樣品
任何位置都可以通過點測量進行測量。
使用樣品更換器 (*) 可自動測量多達 25 個板狀或粉末狀樣品。
通過使用Xe（氙）燈（*），可以高靈敏度地測量不易產生電子的
日本rikenkeiki光學測量儀用于半導體材料等 AC-5/AC-3 規格參數
有機EL和復制感光材料的電離勢測量
硬盤和磁帶摩擦學研究
半導體和引線框架表面氧化態的測量
精密電子材料中分子級薄膜污染檢測
測量以下功能材料的電離勢：
有機EL、有機太陽能電池、有機晶體管、復印感光材料、鈣鈦礦太陽能電池、量子點、碳納米材料、催化劑材料、蓄電池、燃料電池、半導體材料（Si、GaN） 、GaAs等）、透明導電膜（ITO、FTO等）
4000cps
光譜儀 光柵式單色儀
最大樣本量 面積180×180mm以下，厚度1±0.2mm以下
溫濕度范圍 溫度范圍15-35℃，濕度20-60%RH
電源 AC100V-240V
50/60Hz 5A (MAX)
*不包括控制電腦
外形尺寸 光源部分 LC-1：約 450(W) x 300(H) x 500(D)mm
測量部分 DC-1：約 600(W) x 380(H) x 500(D)mm
重量 光源部分 LC-1：約 35 kg
測量部分 DC-1：約 50 kg *不包括控制 PC
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