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| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,能源,電子,電氣,綜合 |
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日本進口Akion激光光學干涉條紋分析裝置 IFM 特點介紹
通過利用激光干涉儀觀察到的干涉條紋圖像，對拋光表面的表面精度和光學元件的透射波前精度進行量化和可視化，從而獲得精度更高、更易于理解且有助于提高質量控制的產品。
新開發的IFM兼容最新的操作系統，通過引入新算法提高了測量精度，并具有滿足各種需求的分析功能。這是一種操作簡單、任何人都可以使用的干涉條紋分析裝置。
日本進口Akion激光光學干涉條紋分析裝置 IFM 規格參數
?使用圖標操作，即使是初學者也能輕松進行測量
?通過引入圖像處理技術，提高相位連接精度
?增加各種分析功能
→ 澤尼克系數：可以使用邊緣澤尼克系數和標準澤尼克系數進行分析
→ 醫療記錄青色系數：在正交坐標系和像差消除功能
→ 用戶自定義功能分析：Zernike、PV、彗形像差、功率等計算功能
→ 相位數據計算功能：平均處理、2 球法、3 平面法
→ 異常自動消除功能圖像（灰塵、劃痕）
、PV值、RMS值、賽德爾像差（球面/慧差/長寬比）、3D（鳥瞰圖）、2D（輪廓圖）、截面分析等。
[配置項目]
IFM干涉條紋分析軟件、移相器（壓電驅動方式）、控制驅動器（移相器驅動、圖像數據A/D轉換等） PC、計算機架
[分析項目]
PV值、RMS值、鳥類眼睛視圖、輪廓線圖、橫截面視圖、賽德爾像差
ISO 兼容：IRR（Ascuse）、RSI（質量）
Zernike 系數：Fringe Zernike（36 項）、Standard Zernike（45 項）
用戶定義函數、頻率分析、
【分析像素標準】640×480像素（特殊訂單：300萬像素）
【等級】 10bit
【電源】 AC100V 50/60Hz 2A
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