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產品簡介
詳細介紹
產品介紹：
8 HAST又名HAST高壓加速壽命老化試驗箱，用于車規級芯片，IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節，測試其制品的密封性和老化性能。
產品別名：
UHAST, 高加速穩態濕熱應力試驗箱, 高壓蒸汽試驗箱, 不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱箱,BHAST
一，8 HAST滿足試驗標準：
AEC Q101（車規級芯片）
JIS C0096-2
GB/T2423.40-1997電工電子產品環境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩態濕熱
JESD22-A100循環的溫度和濕度偏移壽命
JESD22-A101穩態溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）
JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗濕性滲透）
JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命
JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗
JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）
二，應用領域：
PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規級芯片……
特點
HAST高壓加速壽命老化箱：
1.內膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結露滴水現象，從而避免產品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結果。
2.產品滿足JESD22-A100至A118偏壓（BHAST）或不偏壓（UHAST）加速抗濕性試驗以及飽和高壓蒸汽（蒸煮）試驗。
3.產品兼容高加速溫濕度應力HAST老化試驗和高壓蒸煮PCT抗濕性試驗。
一，主要技術參數 | |||
型號 | NWT-HAST-35 | NWT-HAST-40 | NWT-HAST-55（可定制） |
內容積（L） | 35L | 40L | 55L |
內箱尺寸(ΦxD) 直徑x深(mm） | 350x450mm | 400x550mm | 550x650mm（可定制大于這個尺寸） |
外箱尺寸(WxDxH) 寬深高(mm) | 700x1000x1710mm | 700x1000x1710mm | 850x1150x1760mm |
功率 | 2.8KW | 3.2KW | 4KW |
重量 | 252KG | 285KG | 358KG |
電源 | AC220V 50/60Hz | ||
溫度范圍 | +100℃～+156℃; | ||
溫度波動度 | ≤±0.5℃. | ||
溫度均勻度 | ≤±0.5℃. | ||
濕度范圍 | 65%～100 %R.H . | ||
濕度波動度 | ≤±2 %R.H. | ||
濕度均勻度 | ≤±3 % R.H. | ||
壓力范圍 | 0.2～3㎏/㎝2 (0.018～0.294 MPa) （箱內壓力）；（可定制大于此壓力機型） | ||
升溫時間 | 常溫～+ 155℃ 約45 min . | ||
升壓時間 | 常壓～+ 3㎏/㎝2 約35 min. 外部氣源加壓：約5 min | ||
偏壓端子 | 含偏壓端子（選配訂購時需注明） | ||
壓力偏差 | ≤±2Kpa | ||
循環方式 | 磁流體密封件+風葉強制對流循環方式。 | ||
加壓方式 | 1.鍋爐蒸汽加壓；2外部氣體加壓 | ||
分辨率 | 溫度±0.1℃,濕度±0.1%R.H. 壓力0.01㎏/cm2，0.01min | ||
溫度、濕度、 壓力范圍 |
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保溫圍護結構 | 內膽：優質SUS316銹鋼；外殼;軋鋼板+雙面靜電噴塑工藝處理；內膽保溫材料：超細玻璃棉。 | ||
燥音 | ≤60（dB） | ||
控制器 | 7寸彩色觸摸屏控制器（帶壓力溫濕度曲線，帶RS-485或RS-232通訊，USB烤數據） | ||
使用條件 | 環境溫度：+5℃~+35℃;環境濕度：≤85%RH；環境大氣壓要求：86KPa～106KPa | ||
