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北崎國際貿易（北京）有限公司
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SANKO山高SWT系列膜厚儀專用探頭SNFe-8
  • SANKO山高SWT系列膜厚儀專用探頭SNFe-8
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貨物所在地：北京北京市

所在地： 日本

更新時間：2024-10-25 14:47:13

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SANKO山高SWT系列膜厚儀專用探頭SNFe-8
與主機一起提供單獨的可互換探頭。
選擇用于測量對象上的鐵（電磁）或有色金屬（渦流）基體的探頭。
選擇探頭（如高穩定性探頭）的能力，可根據應用和測量范圍測量微小的物體或類似物體。

SANKO山高SWT系列膜厚儀專用探頭SNFe-8
SANKO山高SWT系列膜厚儀專用探頭SNFe-8
產品特性

  • 與主機一起提供單獨的可互換探頭。

  • 選擇用于測量對象上的鐵（電磁）或有色金屬（渦流）基體的探頭。

  • 選擇探頭（如高穩定性探頭）的能力，可根據應用和測量范圍測量微小的物體或類似物體。

SWT（Fe 探針）的規格

模型
SFe-2.5※1/2.5公升
SFe-0.6 筆
方法
磁感應型
范圍
0~2.50 毫米
0~600微米
顯示分辨率
1μm：0~999μm 切換到 0.1μm：0~400μm 0.5μm：400~500μm 0.01mm：1.00~2.50mm
1μm：0~600μm 切換到 0.1μm：0~400μm 0.5μm：400~500μm
精度 （在平面上垂直測試）
0~100μm：±1μm 或 ±2% 讀數值
101μm~2.50mm：±2%
0~100μm：±1μm 或 ±2% 讀數 101μm~600μm：
±2% 讀數
探針
單點接觸恒壓型
V型切割 2.5：φ15×47mm 2.5L：18x23x67mm
單點接觸恒壓型 V 形切割 φ5.6 x 92.2mm
V 型探頭適配器※2/非
非
輔料
標準厚度，測試用零板 （Fe）
測量對象
在鐵、鋼等磁性金屬基材上涂布、襯里、熱噴涂膜、電鍍（電解質缺口鍍除外）等。
在狹窄/狹小的地方和部分基材（如鐵、鋼）上進行涂層、襯里、電鍍。

  1. ※1.探頭耐熱（約 200°C）。（SFe-2.5）

  2. ※2.SFe-2.5 可使用 V 型探頭適配器（3 種：lessΦ5、Φ5~10、Φ10~20）。

模型
SFe -10
SFe -20
方法
磁感應型
范圍
0~10毫米
0~20 毫米
顯示分辨率
1μm：0~999μm
0.01mm：1~10mm
1μm：0~999μm
0.01mm：1~5mm
0.1mm：5~20mm
精度 （在平面上垂直測試）
0~3mm：±（5μm + 3% 讀數值）
以上或 3.01mm：±3% 讀數值
探針
一點接觸恒壓型 V型切割 φ20.4x47.1mm
一點接觸恒壓型 V切 φ35x55mm
輔料
標準厚度，測試用零板 （Fe）
測量對象
相對較厚的物體
厚物體

探頭必須單獨訂購。

    SWT（NFe 探針）的規格

    模型
    SNFe-2.0/2.0L
    方法
    渦流型
    范圍
    0~2.00 毫米
    顯示分辨率
    1μm：0~999μm
    切換到
    0.1μm：0~400μm 0.5μm：400~500μm
    0.01mm：1.00~2.00mm
    精度 （在平面上垂直測試）
    0~100μm：±1μm
    或 ±2% 讀數值
    101μm~2.00mm：±2%
    探針
    單點接觸恒壓型 V 型切割
    2.0：φ15 x 47mm 2.0L：18 x 22 x 67mm
    V 型探頭適配器※/非
    輔料
    標準厚度，用于測試的零板 （NFe）
    測量對象
    非磁性金屬基材（如鋁、銅）上的絕緣薄膜
    相對通用的對象

    探頭必須單獨訂購。

    1. ※SNFe-2.0 可使用 V 型探頭適配器（3 種：lessΦ5、Φ5~10、Φ10~20）。

    模型
    SNFe-0.6
    SNFe-8
    方法
    渦流型
    范圍
    0~600微米
    0~8毫米
    顯示分辨率
    1μm：0~600μm
    切換到
    0.1μm：0~400μm
    0.5μm：400~500μm
    1μm：0~999μm
    0.01mm：1~8mm
    精度 （在平面上垂直測試）
    0~100μm：±1μm
    或 ±2% 讀數值
    101μm~600μm：±2%
    0~3mm：±（5μm + ±3%讀數值）
    以上或 3.01mm：±3%讀數值
    探針
    單點接觸恒壓型 V 型切割 Φ13×45.5mm
    單點接觸恒壓型 V切 φ35×59mm
    非
    輔料
    標準厚度，用于測試的零板 （NFe）
    測量對象
    非磁性金屬基材（如鋁、銅）上的絕緣薄膜
    像鋁一樣，杯子對窄棒、管、小件具有高穩定性
    相對較厚的物體


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