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讀數頭AELB382C 315420-04（海德漢）

測量方法

絕對測量法是指光柵尺或編碼器在通電時立即提供位置值并供后續電子電路隨時讀

取。因此，無需點動運動軸進行參考點回零操作。絕對位置信息由圓碼盤提供，圓

碼盤含編碼的柵狀結構。

獨立的增量刻軌信號在細分后生成位置值，同時生成可選的增量信號。

單圈編碼器的絕對位置值信息每轉一圈重復一次。多圈編碼器還能區分其它各圈。

絕對式旋轉編碼器的圓碼盤對于增量測量法，光柵由周期性刻線組成。位置信息由自由設置的起點開始計算增量數（測量步距數）確定。要確定位置需要絕對參考點，因此，圓碼盤還另外提供一個參考點柵軌。由參考點確定的絕對位置可以精確到一個測量步距。因此，在建立絕對參考點前或重新找到最新選擇的參考點前，必須首先進行參考點回零.

AE LB 382C用于增量式密封 LB 線性編碼器的掃描裝置相關技術參數

技術數據

訂貨編號：315420-04

刻度類型：AURODUR

輸出信號：~1Vpp

參考標記：距離編碼

光柵周期：40.000 微米

電源：5V+-5%

電氣連接：獨立適配器電纜

光電掃描海德漢的大多數光柵尺或編碼器都采用光電掃描原理。光電掃描為非接觸式掃描，因此無磨損。光電掃描可以檢測到非常精細的光柵，柵線寬度僅數微米，可生成信號周期非常細小的輸出信號。ECN、EQN、ERN、ROC、ROQ和ROD旋轉編碼器采用成像掃描原理。簡單地說，成像掃描原理是用透射光生成信號；例如用兩個柵距相同柵狀結構（柵尺與掃描掩膜）彼此相對地運動。掃描掩膜為透明基體。測量基準上的柵狀結構可在透明面上，也可在反光面上。當平行光穿過光柵時，在一定距離處投影形成明/暗區。柵距相同的掃描光柵位于柵狀結構投影的成像位置。當這兩個柵狀結構相對運動時，調制入射光：如果狹縫對齊，光線通過。如果一條光柵的柵線與另一條光柵上的狹縫對齊，光線無法通過。光電池將這些光強變化轉化成近似正弦波形的電信號。采用成像掃描原理的編碼器允許較大的安裝公差，最小柵距可達10•μm。LED光源測量基準旋轉編碼器的精度主要取決于以下因素：用該掃描原理的絕對式旋轉編碼器的光電池是大型、精細的柵狀光電池，而不是一組分立的光電池。光電傳感器的柵狀結構寬度與測量基準柵狀結構的寬度相同。因此無需具有相同柵狀結構的掃描掩膜。其它掃描原理ECI/EBI/EQI旋轉編碼器采用感應測量原理。在感應掃描中，柵線調制高頻信號的增益和相位。通過圓周掃描，位置值信號全部由沿圓周均勻分布的接收線圈生成。聚光鏡掃描掩膜光電池未圖示光電池• • 徑向光柵的方向偏差• • 圓碼盤相對軸承的偏心量• • 軸承的徑向跳動• • 聯軸器連接導致的誤差；對于帶定子聯軸器的旋轉編碼器，該誤差包含在系統精度內• • 編碼器內和編碼器外數字化和細分電路中信號處理過程中的細分誤差

讀數頭AELB382C 315420-04（海德漢）