HP Spectroscopy-光譜儀-maxLIGHT-SXR

產品型號： maxLIGHT-SXR

產品介紹： maxLIGHT 采用無縫設計，可提供光收集量和業內高效率。經像差校正的平場波長覆蓋范圍從 1nm 到 200nm，光譜帶寬寬廣，例如每個光柵可覆蓋 5-80nm 的波長。maxLIGHT 具有集成的狹縫支架和濾光片插入裝置，以及電動光柵定位裝置。檢測器選項包括用于高分辨率和動態范圍的 XUV CCD，以及用于寬波長覆蓋范圍和門控/增強檢測的 MCP/CMOS 檢測器。采用直接光源成像。因此，無需狹窄的入口狹縫，可大限度地收集光線。與傳統的光譜儀結構相比，到達光譜儀探測器的光量增加了 20 倍。這種結構還大大提高了日常運行的穩定性。（文件）

性能特點： 

平場掠入射光譜儀

采用專有的無狹縫設計，效率高

波長范圍從 1 nm到 200 nm

集成示波器

模塊化交鑰匙設計

選型指南： （圖）

可選功能與配件： 

無磁、旋轉幾何、偏振等

技術參數： 

產地：德國

拓撲結構：像差校正平場光譜儀和光束輪廓儀

光源距離：靈活

探測器：CCD 或 MCP/CMOS

工作壓力：<10^-6 mbar（提供 UHV 版本）

無縫技術：是

入口狹縫：可選

光柵定位：電動閉環

光譜濾波器插入單元：是

控制接口：USB 或以太網

軟件：Windows UI 和 Labview/VB/C/C++ SDK

波長范圍：1-20 nm

色散：0.2-0.4 nm/mm

分辨率：在 10 nm處 <0.015 nm

產品應用： 

高次諧波發生源、阿秒科學、強激光物質相互作用、自由電子激光器、激光和放電產生的等離子體源、X 射線激光器、激光驅動的二次光源