高溫電阻測量系統(tǒng) 參考價：面議
高溫電阻測量系統(tǒng)使用多種測量方法測量材料電阻，如四線電阻法，2線法，三環(huán)電極法，4探針法等。
薄膜電阻測試儀(四探針、電渦流) 參考價：面議
電阻測量和監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都至關(guān)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品。R50薄膜電阻測試儀(四探針、電渦流)在金屬膜均勻性分布、離子摻...
超低溫力學(xué)測試系統(tǒng) 參考價：面議
超低溫力學(xué)測試系統(tǒng)專用于超低溫環(huán)境的材料力學(xué)試驗(yàn)機(jī)，溫度低至-269℃。
力電聯(lián)測試驗(yàn)機(jī) 參考價：面議
力電聯(lián)測試驗(yàn)機(jī)通過軟件關(guān)聯(lián)試驗(yàn)機(jī)和電學(xué)儀表（LCR），實(shí)現(xiàn)力--電同步測試，除常規(guī)的試驗(yàn)機(jī)測試外，還可得到：載荷\應(yīng)力-電阻\電容、位移\應(yīng)變-電阻\電容曲線。
材料試驗(yàn)機(jī) 參考價：面議
材料力學(xué)試驗(yàn)機(jī)，包括靜態(tài)、動態(tài)、沖擊試驗(yàn)等，采用多種加載方式，如：機(jī)械加載、電/液伺服加載、多軸協(xié)調(diào)加載等
微納拉伸試驗(yàn)機(jī) 參考價：面議
微納力學(xué)，微納拉伸測試，納米拉伸測試
納米壓痕儀 參考價：面議
高精度納米力學(xué)測試系統(tǒng)，原位納米力學(xué)測試平臺。
原子力顯微鏡 參考價：面議
原子力顯微鏡可進(jìn)行高精度的粗糙度、臺階高度及微納米級別三維輪廓等測量，同時可以測量相位、電場、磁場、導(dǎo)電力等其他各種高級物理量。
橢偏儀 參考價：面議
橢偏儀：超薄膜的實(shí)時可視化分析測試，實(shí)時觀察樣品微觀尺度上的結(jié)構(gòu)。可以測量諸如薄膜厚度、折射率和吸收系數(shù)等參數(shù)。也可以對薄膜進(jìn)行區(qū)域化(選區(qū))分析，獲得所選區(qū)域...
探針式輪廓儀（臺階儀） 參考價：面議
探針式輪廓儀（臺階儀）高精度、低噪聲、高穩(wěn)定性和大掃描量程，這些技術(shù)特點(diǎn)為P系列臺階儀在晶圓測試領(lǐng)域的廣泛使用奠定了堅實(shí)的基礎(chǔ)，也為其拓展了在其他材料測試方面的...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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