氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀 參考價：面議
全新單四極桿型氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀GCMS-QP2020 NX以強(qiáng)勁的性能優(yōu)勢，智能化的分析軟件，專屬性的數(shù)據(jù)庫和多種分析系統(tǒng)，多方面擴(kuò)展您的實驗?zāi)芰Γm用于各個...
氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀 參考價：面議
氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀：經(jīng)濟(jì)適用型GCMS，全自動的MS調(diào)諧模式是每個儀器操作者都可輕松完成質(zhì)譜參數(shù)的優(yōu)化設(shè)置，獲得穩(wěn)定可靠的質(zhì)量圖譜。
氣相色譜儀 參考價：面議
氣相色譜儀是用來測定樣品中不同組分含量的分析儀器，樣品在載氣的傳送作用下進(jìn)入色譜柱（載氣常用氮氣或氦氣），不同組分在色譜柱中被分離，最后依次流出色譜柱，被檢測器...
臺式掃描電鏡 參考價：面議
臺式SEM，標(biāo)配二次電子探測器
超景深3D視頻顯微鏡 參考價：面議
超景深3D視頻顯微鏡：從宏觀到微觀，僅需一個步驟，從大型圖片放大到細(xì)枝末節(jié)只需一瞬。即使切換物鏡也不會打斷您的工作流程。DVM6 操作簡單，并可節(jié)省您檢查各種樣...
DM 6M 全自動數(shù)字式金相顯微鏡 參考價：面議
Leica DM 6 M 工業(yè)正置顯微鏡適合金屬、高分子材料、電子元器件、粉塵等樣品檢測分析。
DM 4M 半自動數(shù)字式金相顯微鏡 參考價：面議
DM 4M 半自動數(shù)字式金相顯微鏡機(jī)身內(nèi)置LED透、反射照明電源，智能光強(qiáng)控制，可選鹵素?zé)艄庠础?
DM 2700M手動式金相顯微鏡 參考價：面議
研究級金相顯微鏡，結(jié)構(gòu)簡單，性能可靠，適合于金相觀察，材料分析，質(zhì)量控制等。
體式顯微鏡 參考價：面議
體式顯微鏡附加物鏡 (轉(zhuǎn)盤齊焦)：2× 平場復(fù)消色差物鏡，1.6× 平場復(fù)消色差物鏡，0.63× 平場復(fù)消色差物鏡
微區(qū)掃描電化學(xué)工作站 參考價：面議
微區(qū)掃描電化學(xué)工作站基于電化學(xué)掃描探針設(shè)計，具有超高測量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測試系統(tǒng)，快速精準(zhǔn)的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級研...
電化學(xué)工作站 參考價：面議
Bio-Logic的產(chǎn)品基于模塊化與靈活性的設(shè)計，采用好的技術(shù)，推出功能強(qiáng)大，精度高，穩(wěn)定性好、界面人性化以及具備大規(guī)模測試能力的電化學(xué)工作站。
微型真空探針臺 參考價：面議
Mini CPS微型真空探針臺介電/壓電/鐵電/熱釋電/光電材料的電學(xué)性能表征，機(jī)械彈性設(shè)計，避免探針損壞薄膜樣品。
鐵電分析儀 參考價：面議
FEMS100鐵電分析儀采用虛擬接地測量技術(shù)模式，提高測量精度，適用溫度-160℃～450℃。
介電溫譜測量系統(tǒng) 參考價：面議
介電溫譜測量系統(tǒng)測量介電常數(shù)、介電損耗、阻抗以及它們隨溫度、時間、頻率變化的曲線，同時得出相位θ、Cole-Cole圖、導(dǎo)納圖和壓電材料的機(jī)電耦合系數(shù)（選配）等...
高壓極化裝置 參考價：面議
高壓極化裝置可以對不同材料、厚度的陶瓷樣品進(jìn)行多路同步極化。每路可設(shè)置不同的的極化電壓和電壓時間，并且每路極化互不影響。具有安全互鎖功能，取樣和放樣時，高壓切斷...
高溫電阻測量系統(tǒng) 參考價：面議
高溫電阻測量系統(tǒng)使用多種測量方法測量材料電阻，如四線電阻法，2線法，三環(huán)電極法，4探針法等。
薄膜電阻測試儀(四探針、電渦流) 參考價：面議
電阻測量和監(jiān)控對于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都至關(guān)重要，從半導(dǎo)體制造到可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品。R50薄膜電阻測試儀(四探針、電渦流)在金屬膜均勻性分布、離子摻...
超低溫力學(xué)測試系統(tǒng) 參考價：面議
超低溫力學(xué)測試系統(tǒng)專用于超低溫環(huán)境的材料力學(xué)試驗機(jī)，溫度低至-269℃。
力電聯(lián)測試驗機(jī) 參考價：面議
力電聯(lián)測試驗機(jī)通過軟件關(guān)聯(lián)試驗機(jī)和電學(xué)儀表（LCR），實現(xiàn)力--電同步測試，除常規(guī)的試驗機(jī)測試外，還可得到：載荷\應(yīng)力-電阻\電容、位移\應(yīng)變-電阻\電容曲線。
材料試驗機(jī) 參考價：面議
材料力學(xué)試驗機(jī)，包括靜態(tài)、動態(tài)、沖擊試驗等，采用多種加載方式，如：機(jī)械加載、電/液伺服加載、多軸協(xié)調(diào)加載等
微納拉伸試驗機(jī) 參考價：面議
微納力學(xué)，微納拉伸測試，納米拉伸測試
納米壓痕儀 參考價：面議
高精度納米力學(xué)測試系統(tǒng)，原位納米力學(xué)測試平臺。
原子力顯微鏡 參考價：面議
原子力顯微鏡可進(jìn)行高精度的粗糙度、臺階高度及微納米級別三維輪廓等測量，同時可以測量相位、電場、磁場、導(dǎo)電力等其他各種高級物理量。
橢偏儀 參考價：面議
橢偏儀：超薄膜的實時可視化分析測試，實時觀察樣品微觀尺度上的結(jié)構(gòu)。可以測量諸如薄膜厚度、折射率和吸收系數(shù)等參數(shù)。也可以對薄膜進(jìn)行區(qū)域化(選區(qū))分析，獲得所選區(qū)域...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
3