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應用領域：

★ 低波長紫外光至中紅外光譜擷取 (190-5000 um)

★ 拉曼與熒光光譜       ★ 在線監控       ★ LCD顯示器分析      ★ 生醫光譜應用

★ 氣體與水質分析       ★ LED檢測       ★ 膜厚檢測

SM303

TE冷卻光譜儀

•超低噪聲和雜散光

•高紫外量子效率

•快速數據采集

•200-1050nm光譜范圍

•配備自動升級快門 •可在黑暗條件下使用

SM642

背照式光譜儀

•低噪聲和雜散光

•優質動態范圍和高信噪比

•高UV量子

•快速數據采集

•標準設計允許200-1050nm范圍

SM304

InGaAs 數組光譜儀

•超低噪聲和雜散光

•動態范圍寬

•高穩定性

•快速數據采集

•從900nm到2500nm的各種NIR / SWIR范圍

SM301

(-EX) PbS(e) 數組光譜儀

•配備升級自動快門

•低噪聲、TE冷卻穩定運行

•256畫素

•適用于1.0至3.0微米

   (PbS)或1.5至5.0微米

   (PbSe)區域的光譜測量

•可選擇直射或光纖輸入  

* 無需外部電源

* 光學積分時間從0.1ms到6.5s

* 3648像素線性CCD數組

* 8 μm x 200 μm像素尺寸

* 掃描速率高達138次/秒

* 外部觸發功能

* 4個GPIO引腳

* 提供6個光纖信道,無須任何拆裝

* 高光譜分辨率
* USB 2.0 接口
* 無需外部電源
* 外部觸發功能

* 功能齊全的SDK
* 與其他設備接口的GPIO