當前位置:上海首立智慧科技有限公司>>王子計測OSI>> KOBRA-CCD王子計測微小面積位相差測定裝置
王子計測微小面積位相差測定裝置
KOBRA-CCD
特點
① 1nm寬測量范圍
② 高重復精度±1nm
③ 良好的可操作性
④ 軟件
測定對象:
位相差薄膜,塑料,偏振片
光盤
液晶組件
磁帶用膠片
收縮薄膜
其他一般用途膠片
用途:
光學功能膠片的研究開發,質量管理
延伸膠片的定向評價(三維折射率,表面定向度)
包裝膜的熱收縮、撕脫性等的評價
液晶元件的雙絞線波長色散特性評估
光學器件的透射橢圓偏振光的評價
王子計測KOBRA-CCD微小面積位相差測定裝置
技術參數
| KOBRA-CCD |
測定方式 | 平行ニコル回転法 |
測定波長 | 590nm |
試 料 | 微小試料 |
測定対象 | 位相差板、光學樹脂成型品、ガラス板斷面 |
測定項目 | 位相差、配向角、面內分布 |
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供,信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責,化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規避購買風險,建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。