產地類別 | 國產 | 應用領域 | 環保,化工,能源 |
---|
高吞吐量晶圓廠檢測和分析
溝設槽備寬前度端、模深塊度(E和F角EM度)測用量于的自自動動晶數圓據傳采送集和分析
![]() |
參考價 | 面議 |
更新時間:2022-11-17 16:25:43瀏覽次數:532
聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!
Park NX-Wafer為在線晶圓廠計量提供高生產率和強大特性
高吞吐量晶圓廠檢測和分析
Park NX-Wafer溝設槽備寬前度端、模深塊度(E和F角EM度)測用量于的自自動動晶數圓據傳采送集和分析。
精確的亞埃級表面粗糙度控制
真界實最非低接噪觸音模低式至使0得.5參A數rm相S關·遍結布果整具個有晶免圓疫區性域 保比持其探他針AF針M有尖1的0銳倍度-20以倍達的到更表長面的粗探糙針度壽精命度。
全自動化高吞吐量缺陷成像
直通特接過定連更接強到的缺視自陷覺動映來放射進大檢行AF測自M掃動設描坐備而標不轉需換要和進缺陷行移映射動校平臺正的校準。