多功能原子力顯微鏡平臺，滿足納米級測量的需求。

-原子力顯微鏡(AFM)有納米級分辨率成像以及電,磁,熱和機械性能測量的能力。

-納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡(SICM)。

-倒置光學顯微鏡(IOM)便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

電化學測試的平臺：

電池，燃料電池，傳感器和腐蝕等電化學研究均處于快速增長階段

然而許多原子力顯微鏡不能直接滿足其特殊的需求。科研AFM Park NX12的人性化設計， 為快速操作提供便利，從而達到化學研究人員要求的功能性和靈活性。這主要包括:

?多功能易用電化學池

?惰性氣體和濕度的環境控制選項

?雙恒電位儀的兼容性

研究人員可利用NX12平臺實現各種電化學應用：

?掃描電化學顯微鏡(SECM)

?掃描電化學池顯微鏡(SECCM)

-電化學原子力顯微鏡(EC-AFM)和電化學掃描隧道顯微鏡(EC-STM)

光纖接入驅動聚焦平臺：

通過考驗的NX10性能 O配備倒置光學顯微鏡

頂置顯微鏡與倒置顯微鏡相結合的雙光路樣品臺,科研AFM Park NX12埒Park原子力顯微鏡的多功能 性和準確性相結合。為使用者提供機會研究不同透明度及不同硬度的樣品

基于AFM的電化學應用：

改系統在測量期間可以從各個角度，頂部，側面以及頂部接入探針。

這種可以大范圍投置燈光的方式與設備模塊設計相結合，還可添加光學或納米材料。

考慮建立多用戶設備 NX12*重新構建，以適應多用戶研究機構需求。其他原子力顯微鏡解決方案缺乏必要的多功能性， 難以滿足該設備中用戶的多重需求，很難合理控制設備成本。然而, NX12旨在能夠容納標準環境原子力 顯微鏡成像，液體掃描探針顯微鏡,光學和納米光學成像，使其成為最靈活的原子力顯微鏡之一。

? NX12是專E針對專業電化學研究人員需求量身定制的原子力顯微鏡平臺。

?它基于化學和電化學性質，氣體和液體中介質的特性，為掃描探針顯微鏡提供了一個通用的解決方案, 可廣泛的應用于不透明度的材料。

模塊化設計：

? NX12基于其廣泛的可視光投置到掃描探針的掃描探針顯微鏡技術的納米管，易用性強。

? NX12準確度好，是多用戶設備和職業研究人員的理想平臺。

-多功能應用：

ParkNX12功能廣泛,包括液體中的PinPoint™和納米力學，倒置光學顯微鏡定位透明樣品, 離子電導顯微鏡超軟樣品成像,以及增強透明樣品的光學可視性。

NX12提供了一種在液態和空氣中的納米力 學表征的完整解決方案，

使其成為廣泛應用中的理想選擇。

綜合性的力譜方法

NX12模塊化設計，安裝簡單，兼容性強, 可以滿足您的多種實驗需求。

精準和最容易操作的AFM

簡單的探針和樣品更換

設計能讓您輕易地用手從側面更換新的探針和樣品。 借助安裝懸臂式探針夾頭中預先對齊的懸臂,無需再進行繁 雜的激光校準工作。

閃電般快速的自動探針接近

自動的探針樣品接近功能讓用戶無需進行干預操作。通過監視懸臂接近表 面的反應,NX12能夠在懸臂裝載后十秒內幵始并自動快速完成探針 樣品接近操作。高速Z軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲 信號處理使得無需用戶干預就能快速接觸樣品表面。

快速精準激光調節

憑借我們良好的預校準懸臂架，懸臂在裝載時激光便已聚焦完畢。此外，作為業內一家可以提 供自上而下的同軸視角讓您輕松找到激光光點。由于激光垂直照射在懸臂上，您可通過旋轉兩個 定位旋鈕直觀地在X軸丫軸移動激光光點。這樣您可以在激光準直頁面中輕易找到激光并將其定位 在PSPD上。此時您只需要稍微調整到大化信號,便可幵始獲取數據。

NX12

靈活性，伸縮性高，可滿足各種需求

NX系列有適合大眾化的各種掃描模式，能滿足您的所有硏究需求。

選項

范圍廣泛的環境控制選項包括了多功能電化學池，控溫臺和濕度控制的手套箱。

規格：

掃描器

Z掃描器

XY掃描器

尺寸單位為亳米

AFM掃描頭

SICM掃描頭

驅動臺

柔性引導高推動力掃描器 掃描范圍：15 nm(可選30卩m)

多層壓電疊層驅動器驅動的柔性引導結構 掃描范圍：15 nm(可選30卩m)

閉環控制的柔性引導XY掃描器 掃描范圍：100卩m X100 |im

ParkNX12倒置光學顯微鏡

436 mm

影像

導致光學顯微鏡

XY驅動臺行程范圍:50mmx50 mm 樣品表面和懸臂的直觀同軸影像

Z驅動臺行程范圍:25 mm 聚焦驅動臺行程范圍：15mm

視野:840卩m X 630卩m (10倍物鏡) 攝像頭:5 M Pixel (默認)，IM Pixel (可選)

物鏡:直到100% 熒光顯微鏡(可選) 共聚焦顯微鏡(可選)

電子信號處理

ADC: 18通道

10倍(NA. 0.23)超長工作距離鏡頭

20倍(NA. 0.35)高分辨率，長工作距離鏡頭

集成功能

3通道數字鎖相放大器

24-bitADC的X,Y和Z掃描器位置傳感器彈性系數校準(熱方法)

DAC:17通道數據Q控制

20-bit DAC的X,Y和Z掃描器定位

選項/模式信號處理

化學性能

信號處理

軟件

•非接觸模式(TrueNon-ContacHMode)•掃描電化學池顯微鏡(SECCM)

•接觸模式•掃描電化學顯微鏡(SECM)

•側向摩擦力顯微術(LFM)

•相位成像模式

•輕敲模式

• Pinpoint^ 模式:Pinpoint 成像

•電化學原子力顯微鏡(EC-AFM) 和電化學掃描隧道顯微鏡(EC-STM)

•功能化採針的化學力顯微鏡

•真正的非接觸模式

•接觸模式

•側向摩擦力顯微術(LFM)

•相位成像模式

•輕敲模式

• Pinpoint^ 模式:Pinpoint 成像

力測量

磁性能

熱性能

625 mm

710 mm

•力一距離(F-D)光譜

•力譜成像

•磁力顯微鏡(MFM)

•可調外加磁場MFM

•掃描熱顯微鏡(SThM)

電性能機械性能

•導電AFM (CP-AFM)

•Pinpoint^ 導電AFM

•I-V譜線

•掃描開爾文採針顯微鏡(SKPM/KPM) •高電壓SKPM

•Quickstep^掃描電容顯微鏡(SCM)•Pinpoint'，納米力學模式

•掃描電阻顯微鏡(SSRM)•力調制顯微鏡(FMM)

•掃描隧道顯微鏡(STM)•納米壓痕

•掃描隧道光譜(STS)•納米刻蝕

•光電流測繪(PCM)•高電壓納米刻蝕

•SICM Current-distance (l/d)Spectroscopy•納米操縱

手套箱(可選)

•可準確控制濕度

•氣體環境的構成

•絕緣高反應原料

Park SmartScanTM

配件

• AFM系統控制和數據采集的專用軟件

•自動模式的快速設置和簡易成像

•手動模式的高級使用和更精密的掃描控制

XEI

• AFM數據分析軟件

•獨立設計一-可獨立安裝和分析數據

•控溫臺

•手套箱

•磁場發生器

•液態選項

•隔音罩

•能夠生成采集數據的3D繪制

尺寸單位為亳米

ParkNX12倒置光學顯微鏡