目錄:廣州金程科學儀器有限公司>>光學儀器>>分子光譜儀>> UH4150HITACHI日立紫外/可見/近紅外分光光度計
| 波長范圍 | 175-3,300 nmnm | 波長準確度 | 詳見參數nm |
|---|---|---|---|
| 光譜帶寬 | 詳見參數nm | 價格區間 | 面議 |
| 接收器類 | 光電倍增管（PMT） | 儀器結構 | 單光束 |
| 應用領域 | 環保,化工,電子,航天,綜合 | 雜散光(S.L.) | 詳見參數%T |
| 自動程度 | 自動波長 |
廣州金程科學儀器公司供應的日立紫外/可見/近紅外分光光度計UH4150，可實現高精度測定，是光學材料、元件、新材料開發等領域的有力的分析工具。可根據應用目的靈活配置或組合附件，搭建用戶的專用測量體系。
HITACHI日立紫外/可見/近紅外分光光度計具備優異的性能和專業的附件，是評價其光學性能的可靠工具。
高可靠性與實用性的光學技術
利用平行光束可準確測定透過率與反射率
采用檢測器切換時信號水平差異小的光學系統
使用棱鏡-光柵雙單色器可同時實現低散射光和低偏振
豐富的附件可滿足各種測定需求
檢測器種類豐富
提供滿足不同需求的附件
設計符合人體工學
特點：
切換檢測器波長時會產生小的信號差異,即使這樣UH4150也可實現高精度的測定
安裝在積分球上的多個檢測器可在紫外-可見-近紅外的波長范圍內進行測定。由于使用日立專業的積分球結構技術和信號處理技術等，將檢測器切換時（信號水平的差異）吸光度值的變化降到最小。
日立高性能的棱鏡-光柵雙單色器系統可實現低雜散光和低偏振
UH4150采用棱鏡-光柵（P-G）雙單色器的光學系統，秉承U-4100光學系統的特點。棱鏡-光柵（P-G）系統與常見的光柵-光柵（G-G）系統相比,S和P偏振光強度沒有大的改變。即使對于低透過率和反射率的樣品，UH4150也可實現低噪音測定。
平行光束可實現反射光和散射光的精確測定
入射角對固體樣品鏡面反射率的測定非常重要。對于會聚光束，由于入射角根據透鏡的焦距等因素會不同，因此，像導電多層膜和棱鏡等光學薄膜的模擬設計值將與實際測定值不同。 但對于平行光束，相對于樣品入射角始終相同，實現了高精度鏡面反射率的測定。此外，平行光束可用于擴散率（霧度）的評價和透鏡透過率的測定。
可提供適合不同測定目的的多種檢測器
可使用八種不同材料、尺寸和形狀的積分球。
采用全新人體工學設計
改進樣品室門，提升操作性。為了便于更換樣品和附件的操作，采用了符合人體工學的設計。
兼容多種U-4100附件
通用附件適用于兩種型號。U-4100型附件也可用在UH4150型*4由于附件可拆卸，適合更多的測定類型。
比U-4100型更高的樣品通量
在秉承U-4100型光學系統高性能的同時，UH4150提供更高通量的測定。之前型號的儀器在1 nm數據間隔下測定時，掃描速度必須是600 mm/min。UH4150型可在1,200 nm/min的掃描速度下以1 nm的間隔進行測定，顯著縮短測定時間。*5UH4150在約2分鐘內可從240 nm測定到2,600 nm。對需要在紫外-可見-近紅外波長范圍內測定的樣品，如太陽能反射材料，尤其有效。
HITACHI日立紫外/可見/近紅外分光光度計
配置：
項目 | 積分球檢測系統 | 直射光檢測系統 | |
檢測器 光電倍增管（UV-VIS） | 標準積分球（內涂層：BaSO4） | 高靈敏度積分球（內涂層：Spectralon®） | 直射光檢測器 |
設置波長范圍 | 175-3,300 nm | ||
單色器 | 棱鏡-光柵，雙單色器，預單色器：使用棱鏡的Littrow單色器，主單色器：使用衍射光柵的Czerny-Turner單色器（2個可切換的衍射光柵） | ||
數據處理單元 | PC操作系統：Windows® 7 專業版（32位或64位） | ||
操作環境溫度 | 15-35°C | ||
操作環境濕度 | 25-80%（不結露，溫度大于或等于30°時要小于或等于70%） | ||
外觀尺寸，重量 | 900（寬）×760（深）×1,180（高） mm， | ||
日立紫外/可見/近紅外分光光度計UH4150信息由廣州金程科學儀器有限公司為您提供。
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