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JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡。實現在寬范圍加速電壓內，超高空間分辨率下高靈敏度分析。

JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡主要特點

1. FHP2 新型物鏡極靴

保證超高空間分辨率觀察的同時，優化FHP物鏡極靴的形狀以滿足大尺寸雙SDDs（158mm²）的需求，x射線有效檢測效率提高了兩倍以上，實現亞埃級分辨率的EDS元素面分析。

2. 新型屏蔽體

TEM柱采用箱式外殼，可減少溫度、氣流、噪聲等環境變化的影響，從而提高顯微鏡的穩定性。

3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™

    快速準確的像差校正

4. 穩定性提高

CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了發射體附近的真空、發射電流、探針電流的穩定性。其他改進也提高了顯微鏡的穩定性和對各種干擾的抵抗力。