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菲希爾X射線測厚儀FISCHER X-RAY XAN215
菲希爾X射線測厚儀特點:
◆ FISCHERSCOPE X-RAY XAN215具有通用應用特性的高級模式
◆ 4 倍電子調節光圈(準直儀)，6 倍電子調節初級濾光鏡
◆ 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD) 的型號還適用于更復雜的多元素分析
◆ 由下至上的測量方向可以簡便地實現樣品定位
典型應用領域:
◆ 對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能層進行分析
◆ 示蹤原子法分析為消費者提供保護，例如，玩具中的鉛含量
◆ 在珠寶行業和手選工段中高精度要求的金屬合金鑒定
◆ 在高校和工業領域中的研究
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